)浓度ZnO薄膜时,掺杂浓度对光致场发射的影响。通过SEM电镜观察样品表面,发现表面存在纳米晶化颗粒,正是这些晶粒成为发射中心。当掺杂浓度为30at%,3w光源照射时,薄膜阴极开启电场为3.8V/μm。'/>
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姚友谊; 邓宏; 韦敏; 王培利;
中国电子学会;
四川省电子学会;
氧化锌; 射频溅射; 光致场发射; 掺杂浓度; 薄膜;
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