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李伏; 陈培辉;
中国印制电路行业协会;
BGA焊点; 失效分析; 黑盘; PCB线路板; 化学镀镍板件; 化学镀金板件;
机译:BGA焊点对Au / Ni / Cu焊盘的可靠性-Au和Ni层厚度的影响
机译:具有各种化学镀Ni-P和Ni-B层的Sn-Ag BGA焊点的机械可靠性
机译:时效对无铅球栅阵列(BGA)中界面(Cu,Ni)(6)(Sn,Zn)(5)和(Cu,Au,Ni)(6)Sn-5金属间化合物稳定化的影响焊点
机译:使用Ni / Au和Cu-OSP焊盘完成SAC BGA焊点的试验失效分析
机译:重复机械跌落载荷作用下无铅BGA焊点失效机理的建模和寿命预测。
机译:Ni / Sn / Ni微型焊点力学性能的IMC微观结构演变依赖性
机译:老化对PB免球栅极(BGA)焊点(BGA)焊点(BGA)焊点中的界面(Cu,Ni)6(Sn,Zn)6(Sn,Zn)5和(Cu,Au,Ni)6sn5金属间金属间金属间金属间金属间化合物的影响
机译:用于低温共烧陶瓷的au-pt-pd和au厚膜结构的sn-pb焊点的拉伸强度评估mC4652 Crypton编码开关的最终报告(W80)
机译:化学镀Ni / Au镀膜的方法及形成方法得到的化学镀Ni / Au镀膜的方法
机译:用于铜互连衬底的化学镀Ni / Pd / Au金属化结构及其方法
机译:化学镀Ni-P溶液和化学镀Ni-P方法
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