Hong Kong University of Science and Technology (Hong Kong).;
机译:用有限元分析预测无铅BGA焊点的热疲劳寿命
机译:热循环效应BGA无铅焊点降低可靠性
机译:热循环效应BGA无铅焊点降低可靠性
机译:在BGA组件的热循环测试中测量无铅焊料(SnAg / sub 3.8 / Cu / sub 0.7 /)的加速因子,并通过有限元分析校准无铅焊点模型以预测寿命
机译:无铅焊点中铜锡(Cu-Sn)金属间化合物失效机理的表征和建模。
机译:电子设备中无铅焊点的可靠性问题
机译:通过有限元分析预测无铅BGA焊点的热疲劳寿命