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SEB resistance evaluation method and SEB resistance evaluation device

机译:SEB电阻评估方法和SEB电阻评估装置

摘要

A SEB resistance evaluation method includes: disposing an excitation source within a model of a semiconductor device; and determining an energy of the excitation source at which the semiconductor device exhibits thermal runaway, while varying a voltage applied to the model of the semiconductor device and the energy of the excitation source.
机译:SEB电阻评估方法包括:在半导体器件的模型内设置激发源; 并确定半导体器件呈现热失控的激励源的能量,同时改变施加到半导体器件模型的电压和激发源的能量。

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