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Semiconductor structure having active regions with different dopant concentrations

机译:具有不同掺杂剂浓度的有源区的半导体结构

摘要

A semiconductor structure includes a first semiconductor substrate, a second semiconductor substrate, a depletion layer, an isolation structure, a first gate structure, and a second gate structure. The first and second semiconductor substrates respectively have a first active region and a second active region overlapping the first active region. The depletion layer is disposed between the first active region and the second active region. The isolation structure surrounds the first and second active regions. The first gate structure is disposed in the second active region. The second gate structure is disposed in the second active region. The second active region has a portion between the first gate structure and the second gate structure.
机译:半导体结构包括第一半导体衬底,第二半导体衬底,耗尽层,隔离结构,第一栅极结构和第二栅极结构。 第一和第二半导体基板具有重叠第一有源区的第一有源区和第二有源区。 耗尽层设置在第一有源区和第二有源区之间。 隔离结构围绕第一和第二有源区。 第一栅极结构设置在第二有源区域中。 第二栅极结构设置在第二有源区域中。 第二有源区具有第一栅极结构和第二栅极结构之间的部分。

著录项

  • 公开/公告号US11094692B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-08-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NANYA TECHNOLOGY CORPORATION;

    申请/专利号US201916683229

  • 发明设计人 CHING-CHIA HUANG;TSENG-FU LU;

    申请日2019-11-13

  • 分类号H01L27/088;H01L27/108;H01L29/36;H01L29/423;H01L29/10;H01L21/8234;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 20:37:18

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