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Thin film interconnect for multicolor IR/CCD

机译:用于多色IR / CCD的薄膜互连

摘要

A hybrid mosaic IR/CCD focal plane structure is fabricated using planar thin film interconnects. Rows of detectors are formed on an integrated circuit substrate so that the rows of detectors are adjacent to rows of electrical contacts on the integrated circuit. Contact pads are plated onto the rows of contacts and the regions between adjacent rows of detectors are backfilled with an insulating material. The insulating material is then lapped to expose the contact pads and to form an essentially coplanar surface with the detectors. Thin film interconnects are formed over the coplanar surface between the exposed contact pads and detectors in the adjacent row.
机译:使用平面薄膜互连件制造了混合镶嵌IR / CCD焦平面结构。一排检测器形成在集成电路基板上,使得该排检测器与集成电路上的电触点的排相邻。接触垫镀在接触器的行上,相邻检测器行之间的区域再填充绝缘材料。然后,对绝缘材料进行研磨,以暴露出接触垫,并与检测器形成基本共面的表面。薄膜互连形成在相邻行中暴露的接触焊盘和检测器之间的共面表面上。

著录项

  • 公开/公告号US4206470A

    专利类型

  • 公开/公告日1980-06-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HONEYWELL INC;

    申请/专利号US19780961803

  • 发明设计人 WILLIAM J. WHITE;

    申请日1978-11-17

  • 分类号H01L27/14;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 17:04:15

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