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Wet chemical etching of III/V semiconductor material without gas evolution

机译:III / V半导体材料的湿法化学蚀刻而不会产生气体

摘要

An etching solution for III/V semiconductor material, such as gallium arsenide, consists essentially of: 20 to 90 vol. % of phosphoric acid solution; 15 to 80 vol. % of hydrogen peroxide solution; 0 to 60 vol. % of water; and an amount of fluorine ion effective to provide at least 0. 01 mole of fluorine ion per liter of solution, said solution being effective to etch without evolving a gaseous product.
机译:用于III / V半导体材料(例如砷化镓)的蚀刻溶液基本上由以下组成:20至90体积。磷酸溶液的百分比; 15至80卷%过氧化氢溶液; 0至60卷水的百分比;每升溶液中有效提供至少0.01摩尔的氟离子的量的氟离子,所述溶液可有效地蚀刻而不释放出气态产物。

著录项

  • 公开/公告号US4353779A

    专利类型

  • 公开/公告日1982-10-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 WESTINGHOUSE ELECTRIC CORP.;

    申请/专利号US19810292977

  • 发明设计人 JOHN X. PRZYBYSZ;

    申请日1981-08-14

  • 分类号H01L21/312;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 12:08:22

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