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Impurity Injection Method of Antimonide Indium Thin Films for Hall Devices

机译:霍尔器件锑化铟薄膜的杂质注入方法

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机译:无内容

著录项

  • 公开/公告号KR900005638A

    专利类型

  • 公开/公告日1990-04-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 서주인;

    申请/专利号KR19880011728

  • 发明设计人 추대호;요윤경;

    申请日1988-09-10

  • 分类号H01L43/04;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 06:12:38

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