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Lateral PNP transistor with improved electrostatic withstand voltage using latch voltage of NPN transistor

机译:使用NPN晶体管的锁存电压可改善静电耐压的横向PNP晶体管

摘要

The PNP lateral transistor has an N+ diffusion layer (20) in the collector region of a PNP transistor, an acceptor n+ layer (11) and n- epictancial layer (12) on a p- substrate (10), a p- diffusion layer (13) for emitter, a p- diffusion layer (14) for a collector, and an n+ diffusion layer (15) for base. The breakdown voltage of the PNP lateral transistor is dependant upon the blocking voltage (collector to emitter) of the NPN transistor. Preferably, the n+ diffusion layer (20) and the p- diffusion layer (14) have common terminal connections. ADVANTAGE - Better protection against static electricity.
机译:PNP横向晶体管具有在PNP晶体管的集电极区域中的N +扩散层(20),在p-衬底(10)上的受体n +层(11)和n-外延层(12),p-扩散层。用于发射极的(13),用于集电极的p-扩散层(14)和用于基极的n +扩散层(15)。 PNP横向晶体管的击穿电压取决于NPN晶体管的阻断电压(集电极到发射极)。优选地,n +扩散层(20)和p-扩散层(14)具有公共端子连接。优点-更好的防静电保护。

著录项

  • 公开/公告号JP2597753B2

    专利类型

  • 公开/公告日1997-04-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星電子株式会社;

    申请/专利号JP19900402505

  • 发明设计人 イ ホ ジン;

    申请日1990-12-14

  • 分类号H01L21/8228;H01L21/331;H01L27/082;H01L29/73;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 03:28:30

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