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TFT memory device having gate insulator with charge-trapping granules

机译:具有具有电荷俘获颗粒的栅极绝缘体的TFT存储器件

摘要

A TFT memory B11/B including a substrate B21/B, a polysilicon layer B22/B comprising a source region B22a/B, a channel region B22b/B and a drain region B22c/B formed on the substrate B21/B, an extremely thin insulating film B23/B formed on the polysilicon layer B22/B, granular semiconductor or metal charge-trapping bodies B24/B for trapping the charge of injected carriers placed on the extremely thin insulating film B23/B and a further insulating film B25/B formed over the charge-trapping bodies B24/B and extremely thin insulating film B23/B. Also a method of manufacturing this device.
机译:包括基板 21 的TFT存储器 11 ,包括源极区 22a 的多晶硅层 22 ,沟道区在基板 21 上形成的 22b 和漏极区域 22c ,在多晶硅上形成的极薄的绝缘膜 23 22 ,用于捕获置于极薄绝缘膜 23 上的注入的载流子电荷的半导体或金属电荷捕获体 24 在电荷俘获体 24 上形成了另外的绝缘膜 25 ,并且形成了非常薄的绝缘膜 23 。也是制造该装置的方法。

著录项

  • 公开/公告号GB2364823A

    专利类型

  • 公开/公告日2002-02-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 * SEIKO EPSON CORPORATION;

    申请/专利号GB20000017158

  • 发明设计人 PIERO * MIGLIORATO;SATOSHI * INOUE;

    申请日2000-07-12

  • 分类号H01L29/51;

  • 国家 GB

  • 入库时间 2022-08-22 00:23:18

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