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Circuits, systems, and methods for accounting for defective cells in a memory device

机译:解决存储设备中缺陷单元的电路,系统和方法

摘要

A data processing system 100 is provided which includes a memory 104, an array 204 of memory cells arranged in rows and columns, each row being addressable by an address. Address generation circuitry 201/202 is provided for generating ones of the addresses for accessing selected ones of the rows in the array 204. An associative memory 203 is coupled to the address generation circuitry 201/202 for translating a first address, received from the address generation circuitry 201/202 and addressing a defective one of the rows of the array 204, into a second address addressing an operative one of the rows in array 204, the second address being sent to the memory.
机译:提供了一种数据处理系统 100 ,其包括存储器 104 ,以行和列排列的存储单元的阵列 204 ,每行都是可寻址的通过地址。提供地址生成电路 201/202 ,用于生成用于访问阵列 204 中的选定行的一些地址。关联存储器 203 耦合到地址生成电路 201/202 ,用于转换从地址生成电路 201/202 接收的第一地址。并将数组 204 的有缺陷的行之一寻址到寻址数组 204 的可操作的行之一的第二地址,该第二地址被发送到存储器。

著录项

  • 公开/公告号US6513130B1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CIRRUS LOGIC INC.;

    申请/专利号US19960726568

  • 发明设计人 RANDOLPH A. CROSS;

    申请日1996-10-04

  • 分类号G06F110/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:04:47

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