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中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会
中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会
召开年:
2004
召开地:
重庆
出版时间:
2004-10-01
主办单位:
中国电子学会
会议文集:
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1.
可信性标准综述
李新祥
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
随着可靠性技术及其工程领域的不断拓展,以及"可信性"概念的引入,国际电工委员会(IEC)第56技术委员会(TC56)的名称及其国际标准的编制内容和组织方法也都跟着发生了很大改变.特别是自从1987年提出了标准的"工具箱"结构概念以后,在IEC/TC56和各国专家的共同努力下,可信性国际标准日趋丰富.我国电工电子产品可靠性与维修性标准,极大部分是通过参照IEC/TC56国际标准编制而成的,到目前为止,推荐使用的国家标准(GB)共有近30份.
可信性;
可靠性;
电子产品;
国际标准;
国家标准;
2.
加强鱼雷陆上可靠性工作 改变实航验收方法
章黎明
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
目前,对研制和生产的鱼雷进行鉴定和验收的方法主要是全数实航,而这种耗时长、费用大、又不利于产品质量的提高的办法,难以适应当今台海危机形势的紧迫性.因此,加强鱼雷陆上可靠性工作,严格质量控制,变全数实航验收为抽样检验验收的方法,是较为科学、省时、低耗、又保证鱼雷有较高质量的举措,这也是国外发达国家目前普遍采用的鱼雷控制和验收方法.
鱼雷;
可靠性;
验收方法;
质量控制;
抽样检验;
3.
工艺是提高产品质量的关键
戴爱节
;
金毓铨
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文介绍了工艺的定义,论述了工艺是提高产品质量的关键,并强调了加强关键工序和特种工序的管理以及产品生产过程的管理.
产品质量;
工艺管理;
电子产品;
4.
机电产品可靠性验证指数——威布尔修正统计试验方法研究
艾永春
;
岳朝生
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文阐述了指数—威布尔修正统计试验方法的基本原理及实施步骤;论述了统计试验方案的设计;举例说明了该方法的应用;最后讨论了该方法的使用价值及其存在的问题.
机电产品;
可靠性验证;
统计试验方法;
5.
C4ISR系统可靠性评价研究
胡鹏
;
曾熠
;
袁卫卫
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
首先阐述了C4ISR系统可靠性评价的重要性,在探讨了C4ISR可靠性评价的特殊性后初步提出了一些研究的思路,针对C4ISR系统可靠性评价工程中评价数据不确定的实际问题,将ER(evidential reasoning)方法引入对C4ISR系统的广义可靠性评价,并介绍了基于ER方法的可靠性基本评价框架,为今后的研究提供了参考.
C4ISR系统;
证据推理方法;
可靠性评价;
作战指挥系统;
6.
一个C<'4>ISR系统可靠性评价分析工具的设计与实现
刘俊先
;
曾熠
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文首先分析了C<'4>ISR系统可靠性评价分析的特点,研究了基于仿真的系统可靠性评价分析框架,以此为基础设计并实现了一个C<'4>ISR系统可靠性评价分析工具,研究了工具实现中的关键技术.
C'4ISR系统;
可靠性评价;
软件工具;
作战指挥系统;
7.
超深亚微米集成电路可靠性技术
恩云飞
;
孔学东
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文就超深亚微米集成电路中高k栅介质、金属栅、Cu/低k互连等相关可靠性热点问题展开了讨论,针对超深亚微米集成电路可靠性问题,提出可靠性设计、生产过程的质量控制、可靠性评价与失效分析是集成电路可靠性综合评价与保证的核心思想,为产品可靠性评价与保证提供指导性参考.
超深亚微米集成电路;
可靠性;
高k栅介质;
金属栅;
低k互连;
铜互连;
8.
光电器件可靠性强化试验理解与实施
许少辉
;
魏建中
;
陈波
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本着"快速、先进,经济、有效"的原则,选用高应力短时间的试验方案,尽量减少或取消不实用的试验项目以节约试验资源,提高对试验中产品性能的要求,增加专门的试验项目以规避风险,并推动开发人员扩大设计余量,提高设计水平.产品可靠性要求越来越高,这是新一轮对可靠性的挑战.本文以光电器件为例,把可靠性强化试验与模拟试验结合起来,获得大的设计余度,确保高可靠性,用模拟技术按"标准"规定的条件进行鉴定试验和验收试验,以确认设计可靠性和验收产品.
可靠性强化试验;
可靠性鉴定试验;
环境应力筛选;
加速试验;
光电器件;
9.
USB OTG一致性测试
陈波
;
魏建中
;
许少辉
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
2003年9月,USB实施者论坛 (USB IF)发布了USB On-The-Go(简称USB OTG)一致性测试程序,这标志着USB OTG进入正式实施阶段.本文从USB OTG概念入手,着重介绍了USB OTG的一致性测试.
一致性测试;
USB接口;
移动设备;
互联协议;
电测试;
协议测试;
电子产品;
10.
电子元器件可靠性增长方法
黄云
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
对于失效率低或批量小的电子元器件,已很难应用传统的可靠性试验进行可靠性评估,本文探讨了将成品率、标准偏差(σ)、工序能力指数C<,PK>等工艺制造参数作为可靠性增长的指标,从FMEA分析、可靠性设计和工艺保障角度实现元器件可靠性增长的方法.为元器件可靠性增长的指标选择和制定、以及可靠性增长技术提出了更灵活和实用的选择.
可靠性增长;
失效模式;
工艺保障;
电子元器件;
11.
高加速应力试验(HAST)用于倒装焊(Flip Chip)领域
魏建中
;
王群勇
;
罗雯
;
肖国伟
;
陈正豪
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
倒装焊技术已被广泛用于电子领域.对倒装焊技术而言,其焊点的可靠性、密封填充物与芯片或基板间的分层一直是特别重要的课题.本文介绍了一种加速环境试验-HAST,用于快速评价倒装焊接在FR-4基板上面阵列分布焊点的可靠性,试验结果说明HAST能够作为一个有效的可靠性试验评价工具用于倒装焊技术领域.
可靠性试验;
倒装焊;
高加速应力试验;
电子产品;
12.
兵器装备用元器件二次筛选试验技术
王勇
;
张新
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文从二次筛选的目的和重要性着手,介绍了二次筛选的试验方法,重点叙述了各种兵器装备用元器件二次筛选的试验方法,针对各种元器件的工艺加工特点,如何有效地开展二次筛选.
二次筛选;
可靠性;
兵器装备;
试验方法;
电子元器件;
13.
环境试验对系统设备影响分析
于迎
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
简明地介绍了环境试验的项目、试验目的及环境试验对提高军用设备可靠性的重要性,叙述了环境试验条件的确定原则,分析了典型环境试验对系统设备性能的影响及产生的故障特征.为合理地选择系统设备试验项目及条件,提高系统设备可靠性提供参考.
环境试验;
故障特征;
可靠性;
军用设备;
电子产品;
14.
大型工程研制及采购活动中的可靠性监理计划
丁以华
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
使用方对大型工程的可靠性需求当引入专业的可靠性监理机构后,可靠性工程活动将走向规范.各研制阶段的可靠性工作计划和目标可以在立项时进行规划.本文是工程案例的经验总结和新的思考.
大型工程;
可靠性监理;
采购活动;
工程管理;
电子工业;
15.
研制产品环境应力筛选条件探讨
郑介春
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文就研制产品在各种筛选及试验中所暴露的问题进行分析,说明研制产品和生产产品环境应力筛选目的和对象的不同,并通过分析环境应力对产品失效机理的作用,探讨研制产品的环境应力筛选条件,以便能有效地激发暴露设计存在的不足和可能存在的隐患.
环境应力筛选;
失效机理;
电子产品;
可靠性设计;
16.
电子产品贮存环境适应性设计浅析
齐俊臣
;
刘春和
;
刘海敏
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文分析了导弹武器所要经历的主要环境,分析了贮存环境中各种环境因素对电子产品的影响,并针对一些主要环境因素的适应性设计作了探讨.
电子产品;
贮存环境;
适应性设计;
导弹武器;
17.
贮存可靠性评定的Bayes方法探讨
李新俊
;
刘春和
;
齐俊臣
;
林荣生
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
贮存可靠性是产品研发及使用中的一项重要指标,其评定工作历来受产品研究设计、试验、使用、管理部门的高度重视.由于经费等原因,投入试验件较少,难以满足贮存可靠性评定的需要.为了解决上述问题,本文在贮存可靠性评定中引入Bayes方法,充分利用验前信息,以弥补试验信息的不足,并取得了很好的效果.该方法对产品的其它性能评定,也有一定的借鉴意义.
贮存可靠性;
Bayes方法;
验前信息;
可靠性评定;
电子产品;
18.
浅谈电磁兼容性设计与测量
王延华
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
在分析电磁兼容性研究内容基础上,论述在系统和设备中电磁兼容性设计要点及注意问题,重点分析电磁兼容性测量及方舱电磁屏蔽效能要求、测量.
电磁兼容性;
电磁屏蔽效能;
电气设备;
电子产品;
测试方法;
19.
电子产品研制过程的可靠性管理
朱起悦
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
为建立闭环式可靠性管理,本文从确定可靠性参数和指标开始,对如何进行可靠性预计,如何加强对转承制方和供应方的监督和控制、确定定时截尾可靠性鉴定试验方案{T,C}和开展软件可靠性定量评估等方面进行了讨论.
电子产品;
可靠性管理;
可靠性预计;
可靠性鉴定;
可靠性评估;
20.
已知干球温度与相对湿度求干湿差的一种计算方法
陈云生
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文给出了一种用循环逼近或迭代的计算方法求干湿差,并给出了程序框图和计算举例,该方法运算次数不多.节省有贮空间与运算时间.
干湿球法;
干湿差;
计算方法;
干球温度;
相对湿度;
循环逼近;
环境试验;
电子产品;
21.
使用电路板级测试的塑封微电路的鉴定
刘涌
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文描述了311-INST-001指令,修订本A,塑封微电路章节中所述的塑封微电路产品保证体系的低成本替代体系.它适用于在极限时间和预算约束条件下实施的项目中和乐于在元器件规划活动中接受较高等级风险的项目中.
电路板级测试;
塑封微电路;
鉴定方法;
电子产品;
22.
反坦克导弹的可靠性直接影响射击效能
张则敏
;
黄静
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
随着高新技术的发展反坦克导弹武器系统作战性能也在不断的提高,随着导弹武器系统性能的提高、功能的增强,系统的复杂化,零部件随之增多,可靠性问题显得尤为突出.系统可靠性直接影响着武器装备的作战效能,作战效能主要是指射击效率.本文主要研究了反坦克导弹武器系统可靠性对射击效能的影响,从而可以看出提高导弹武器系统可靠性的重要性.
反坦克导弹;
可靠性;
射击效能;
23.
环境对舰船通信天线可靠性的影响和对策探讨
郭字洲
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
分析了海水、海洋大气、海生物、舰船振动和摇摆以及电磁辐射等环境因素对舰船通信天线可靠性的影响,进而探讨提高舰船通信天线可靠性的方法.
可靠性;
舰船;
通信天线;
海洋环境;
24.
CPU技术发展及其可靠性评价研究
焦慧芳
;
温平平
;
贾新章
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文通过对CPU工作原理的考察和对发展趋势的分析,得出CPU发生失效的几率越来越高而且原因也越来越多,同时也指出老化筛选试验技术仍然是CPU质量和可靠性保障的重要手段.面对CPU飞速发展所带来的新问题,老化技术面临着许多有待解决的新的技术挑战,强调了确定可操作的CPU老化试验技术规范的紧迫性.
等比缩小;
可靠性;
老化试验;
电子计算机;
25.
破坏性物理分析(DPA)技术的应用
牛付林
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
破坏性物理分析(DPA)技术是保证电子元器件质量的关键技术,在电子元器件的生产过程中以及上机前,在保证电子元器件质量一致性、可靠性等方面有着广泛且重要的应用优势.但目前国内没有充分应用此技术,严重的限制了国内电子元器件质量的提高,尤其是民用电子元器件普遍存在或多或少的隐蔽的质量缺陷.另外DPA技术向非气密封器件的扩展以适应占电子元器件95﹪以上的塑封器件的要求也急需形成相应标准相结合.
破坏性物理分析;
电子元器件;
质量缺陷;
可靠性;
26.
多芯片组件(MCM)热模拟
邱宝军
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
随着多芯片组件封装密度的急剧提高,单位体积内的热耗散程度越来越高,导致发热量和温度急剧上升,由于热驱动引起的机械、化学、电气等可靠性问题越来越严重,严重影响了产品的质量和可靠性.本文利用ANSYS软件进行多芯片组件(MCM)的有限元热模拟,根据模拟结果,讨论不同的对流换热系数、基板热导率、及基板厚度等因素对MCM的温度分布的影响.
MCM;
有限元;
热模拟;
多芯片组件;
微电子封装;
可靠性;
27.
PMOSFET的NBTI效应
李若瑜
;
李斌
;
罗宏伟
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
随着工艺的进步,器件尺寸的不断缩小,PMOSFET受NBTI(Negative Bias Temperature Instability)效应影响而失效的现象愈发严重,NBTI效应成为器件可靠性的一个焦点问题.本文综述了NBTI效应的产生机理、影响因素、减缓方法以及与之相关的一些前沿问题.
栅氧可靠性;
NBTI效应;
退化现象;
场效应器件;
半导体器件;
28.
开关—移相器组件工艺质量优化
张晓明
;
何放
;
王韧
;
李萍
;
米村艳
;
王毅
;
范泽纯
;
焦慧芳
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
开关—移相器组件(以下简称产品),是为某工程配套的关键微波组件之一,为了确保产品的可靠性及交付顺利,在产品生产线上建立了面向可靠性和可生产性的生产工艺控制方法,全面提高了产品生产线的质量控制水平.经过生产线调研、关键材料分析和关键工艺分析、关键工艺优化三个阶段的工作,产品的工艺稳定性和一致性不断提高,工艺缺陷率和上机缺陷率明显下降.本文将从产品的早期情况、原材料进货检验、生产线数据统计分析、生产线工艺改进效果、可靠性鉴定试验、综合应力试验和产品上机应用效果等方面介绍该产品的优化过程和效果,并给出失效率和缺陷率评估结果.
微波组件;
工艺质量;
过程能力指数;
可靠性;
失效分析;
开关移相器;
可靠性;
29.
金属化孔开路失效原因分析案例
朱卫东
;
罗道军
;
郑廷圭
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文介绍了一起金属化孔出现开路现象的案例,并对其失效原因进行深入的分析,发现钻孔和镀层质量差以及腐蚀是导致金属化孔出现开路的主要原因.同时,通过该案例对金属化孔制程中的可靠性控制提出一些看法和建议.
金属化孔;
失效分析;
开路现象;
电子工业;
印制电路板;
可靠性;
30.
电子产品质量信息管理平台
周厚明
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文对建立电子产品质量信息管理平台的重要性与必要性进行了论述,论述了电子产品质量与可靠性信息的需求,本文对电子质量管理平台的构成做了阐述.
电子产品;
质量信息;
可靠性;
质量信息;
31.
潮湿环境对集成电路可靠性的影响
章晓文
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
集成电路电路封装材料的吸水、吸湿的能力主要取决于材料的物质结构,分析了潮湿环境下集成电路中铝互连引线腐蚀的产生原因,给出了化学反应方程式,探讨了工艺中避免化学腐蚀的方法.对三只长期工作环境下失效的塑封FLASH器件的失效机理进行了失效分析,结果表明,水汽渗入使一只器件的接地焊盘铝层腐蚀,另二只器件相邻的两个金属条之间漏电而产生金属原子的迁移,上述原因导致三只器件的失效.
潮湿环境;
集成电路;
化学腐蚀;
可靠性;
失效分析;
32.
行波管输能窗的封接可靠性研究
杨丹
;
叶菊芳
;
李少平
;
黄海涛
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
针对宽带大功率行波管输能窗的漏气失效机理,开展氧化铍陶瓷-金属封接可靠性的研究,从陶瓷本身强度、封接材料匹配性及焊料润湿性着手,结合工艺措施改进来提高封接可靠性.可应用于解决小型针状封接工艺技术难题.
输能窗;
氧化铍陶瓷;
针状封接;
行波管;
可靠性;
电子设备;
33.
PCBA-PTH焊点失效原因分析
贺光辉
;
罗道军
;
郑廷珪
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
介绍了一例典型的PCB过波峰焊后焊点润湿不良原因分析的案例.分析结果表明孔壁镀层厚度太薄、冲孔(钻孔)质量差以及孔焊盘锡铅镀层太薄等原因导致焊点润湿不良.
润湿不良;
镀层厚度;
钻孔质量;
焊点失效;
波峰焊;
电子产品;
印制电路板;
可靠性分析;
34.
压电陀螺的失效率预计研究
聂国健
;
胡瑛
;
谭煊初
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
统计分析了压电陀螺在试验、检验过程中的数据,获得了其主要失效模式并级出了其主要模式的比例.建立了压电陀螺的可靠性模型,通过分析和优化,提出了压电陀螺的失效率预计模型;λ<,P>=λ<,b>π<,C>π<,A>π<,k>π<,E>π<,Q>;通过对10566个压电陀螺产品的工艺数据、试验数据、返修数据进行处理,结合电路预计,给出了预计模型的复杂度系数、结构系数和应用系数,利用试验数据,给出了压电陀螺的基本失效率为1.93×10<'-5>/h.
压电陀螺;
失效率;
预计模型;
使用寿命;
可靠性;
电子产品;
35.
用于高速信号传输的铜聚酰亚胺多层基板
李萍
;
何小琦
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文介绍一种用于高速信号传输的铜聚酰亚胺多层基板.这种基板与厚膜共烧技术和薄膜多层技术相结合,对于高密度封装是有效的.以环境可靠性测试结果和高频评价为基础,这些产品可以应用于实际场合.
高密度封装;
共烧技术;
尾端交调噪声;
信号传输;
铜;
聚酰亚胺;
多层基板;
可靠性;
电子产品;
36.
CY2型包封云母电容器的失效分析
范士海
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文通过对CY2型包封云母电容器的失效分析,发现由于此种电容器采用接触卡夹持引出箔及电容器芯子的卡子结构;接触卡夹持偏位,不平行及错位,都可能造成接触卡夹持铜箔及电容器芯子"松驰",引发接触卡与铜箔之间,云母芯子片与片之间出现微小空隙,最终导致电容器电性能退化型失效(容量下降,损耗增加).
接触卡偏位;
电容器;
失效分析;
可靠性;
37.
试论软件可靠性工程的方法论对软件测试的指导意义
石应华
;
王志刚
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
探讨了软件可靠性工程的方法对软件测试的指导意义.软件可靠性工程从量化的目标可靠性和系统操作轮廓出发,权衡考虑产品质量、工期和成本,为软件测试从策划到实施提供了定量的依据.
软件可靠性工程;
软件测试;
操作轮廓;
故障密度;
38.
电子信息系统质量模型
郭从良
;
黄萍莉
;
刘常亮
;
余熙
;
于鹏飞
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
电子信息系统质量概念正在不断更新,因为现代系统复杂性越来越高,而且人们对系统质量的需求越来越完美.现代的质量观念认为:指粮食系统性能特性的表征,它是满足用户使用要求的特性的总和.为了保证系统的质量,在系统的设计过程中要考虑到系统使用的可靠性、维护性、保障性、安全性、测试性、经济性等系统效能.为了以最小的寿命周期费用实现效能最佳,探讨现代质量概念及其相关数学描述显得尤为重要.况且现代质量的概念不总是很明确的.
电子信息系统;
数学建模;
质量模型;
质量管理;
39.
图形用户界面(GUI)容错设计
于秀山
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文从错误预防、错误检查与提示和错误恢复三个方面探讨图形用户界面软件容错设计原则与方法,并给出了有关设计实例.
图形用户界面;
软件设计;
容错设计;
40.
通信电源的质量和可靠性
郭从良
;
张琳铃
;
孙鑫
;
饶婷
;
周骅强
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
全文通过对通信电源的动力监控系统的阐述,论述了电源是电信网的心脏.先进的传输、交换设备必须要有高可靠的供电系统,同时具有实时监测系统、设备运行状况记录和处理相关数据.从通信电源的维护原则、维护模型、维护技术等几方面论述了通信电源的维护性.全文分六个章节分别论述了通信电源的可靠性、组织机构和监控量、维护性、保障性以及维护性和保障性的计算机仿真技术.充分利用监控系统的计算机网络资源,使电源监控系统由单纯的模拟量、数字量、采集控制变为通信电源综合维护管理系统,也是电源监控系统发展的方向.
通信电源;
可靠性;
维护性;
保障性;
41.
关于电子装备可靠性设计改进方法
高振平
;
王华
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
在明确电子装备及可靠性设计意义的基础上,本文对电子装备可靠性设计的改进方法进行了具体的归纳与阐述;该有助于电子装备研制质量可靠性目标的顺利实现.
电子装备;
可靠性设计;
软件测试;
军事装备;
42.
浅谈自动控制系统的可靠性设计应注意的若干问题
张继辉
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文从接口电路的隔离、测控系统的屏蔽、印刷电路板的设计、电源供电的抗干扰问题等几个方面,重点论述了应用于军事领域的自动控制系统在可靠性设计方面应注意的一些问题.
自动控制;
可靠性设计;
接口电路;
测控系统;
印刷电路板;
电源供电;
军事装备;
电路设计;
43.
潜在电路分析及其应用
胡斌
;
黄清华
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
潜在电路分析(SCA)是识别和排除复杂电子系统潜在电路的有效方法.在简要介绍SCA方法的发展历程、潜在电路的特点及产生原因和SCA方法的基础上,结合工程实践给出了两个潜在电路实例,具有一定的代表性和借鉴作用.
电子系统;
可靠性;
潜在电路分析;
44.
谈型号工程可靠性预计的价值及应注意的问题
高红丽
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
可靠性预计作为一种设计手段,为设计决策提供依据.因此,要求预计工作具有及时性,即在决策之前做出预计,提供有用的信息,否则这项工作就失去了意义.在可靠性设计过程中,预计与修改设计是交替进行的,发现问题要及时修改.经验证明,修改越及时,研制周期越短,越经济.可以说可靠性预计和修改的过程就是可靠性增长的过程.
可靠性预计;
任务剖面;
寿命剖面;
电子产品;
45.
可靠性预计方法及一点思考
曾利伟
;
吕川
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文介绍了可靠性预计的目的,并对当前较为常见的可靠性预计模型或方法做了比较和说明,也对造成可靠性预计局限性的原因做了分析,最后对在可靠性工程工作中对待可靠性预计的态度做了探讨.
可靠性预计;
可靠性预计模型;
可靠性工程;
电子产品;
46.
传统可靠性预计方法不准确的原因分析及其对策
常芳
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文从传统预计方法(GJB/Z299B)的目的及预计方法出发,分析传统预计方法不准确的原因,然后提出HALT/HASS和POF两种可参考的解决传统预计方法不准确的方法.
可靠性预计;
电子产品;
POF技术;
高加速寿命试验;
高加速应力筛选;
47.
CARMES在某测试装置可靠性预计中的应用
朱亮
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
介绍了利用CARMES对某测试装置进行可靠性预计的过程,旨在体现可靠性CAD应用工具对可靠性工作的积极推动作用,应在可靠性工作的各项领域推广使用.
可靠性预计;
测试装置;
电子产品;
CARMES软件;
48.
国际标准IEC61014《可靠性增长大纲》的修订
梅文华
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
任何产品在设计初期,都存在设计缺陷.必须有计划地激发失效分析失效原因和改进设计,实现可靠性增长,本文对IEC61014《可靠性增长大纲》第二版与第一版的内容进行了对比,阐述了IEC61014的主要修订内容.
可靠性增长;
国际标准;
电子产品;
49.
通信网络系统可靠度分析及敏感度分析
朱云飞
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
通信网络系统的可靠度及敏感度分析,对提高通信网络系统可靠度具有明显意义.本文利用直接不交化算法,计算了某指控通信系统可靠度及链路敏感度;并分析各链路可靠度的对系统可靠度的影响.
通信网络;
可靠度分析;
敏感度分析;
50.
CAMAC测试系统使用维修研究
查向武
;
刘明珠
;
李海红
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文针对CAMAC测试系统广泛应用的实际,从分析系统组成与特点入手,阐述了性能监测与控制的方法和技术手段,探讨了维修思想,原则和做法,并提出了建立使用维修综合信息数据库的构想,对于开展自动化测试系统的使用维修具有指导意义.
使用维修;
性能监测;
使用可靠性;
航天电子系统;
地面测试系统;
自动测试系统;
51.
备品备件数量确定方法的研究
肖明珠
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
针对产品失效主要包括贮存失效和工作失效的实际情况,建立了产品的可靠度模型提出了备品备件的通用计算公式,并给出了常见的3种寿命分布类型的备品备件数量的近似计算方法,提供的例子验证了计算公式的正确性.
可靠性;
保障性;
备品备件数量;
可靠度模型;
武器系统;
电子产品;
52.
产品可信性验证试验方法
邝志礼
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文论述了产品可信性的基本概念及其特性,并对产品可信性验证试验要求作一个简要阐述,最后给出可信性验证试验方案设计的基本原理和应用例子.
可信性;
可用性;
可靠性;
维修性;
验证试验;
电子产品;
53.
可靠性试验中的设计缺陷测试模型
吕高焕
;
朱亮
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
文章介绍了可靠性试验中关于设计缺陷测试的分段失效模型,从概率论的观点讨论了系统通过测试的期望概率和测试成功概率,综合起来讨论了成功通过测试后需要的平均重复成功测试次数,并给出了该模型的分析结果.
级连系统;
设计缺陷;
分段失效模型;
系统生存概率;
可靠性试验;
电子产品;
54.
高加速寿命试验(HALT)技术综述
林震
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
高加速寿命试验(HALT)是一种新兴技术,它使用在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节.本文从研究开发HALT的背景出发,详细探讨了HALT对应力曲线和强度曲线的影响.HALT的归属、HALT的优缺点和目的、HALT与传统试验、HALT与可靠性预计、HALT与HASS的关系、高加速基本原理、HALT的基本过程、HALT试验项目、HALT试验系统、HALT应注意的问题和确保HALT成功的建议.
工作极限;
破坏极限;
裕度;
高加速寿命试验;
电子产品;
可靠性;
55.
HALT与HASS技术原理及其应用
邓林
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
面对激烈的市场竞争以及顾客对高质量低成本产品的需要,如何使产品尽快、成熟地完成设计,从而以高质量产品快速占领市场,对产品的设计制造企业来讲显得尤为重要.而要达成这些目的,就必须使用一些高效率的工具来辅助完成产品设计成熟过程,以保证顾客使用到的是可靠和高质量的产品.
故障模式;
电子产品;
环境试验;
高加速寿命试验;
高加速应力筛选;
可靠性;
56.
浅谈环境试验与可靠性试验
曾固
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
军用装备的环境试验与可靠性试验是各种装备研制、生产、定型等过程中经常遇到的试验项目.由于所需试验的产品种类繁多,从机械类产品、电子类产品到各种机电一体化产品、乃至各类火工品等,而产品应用的场合、使用的环境条件、一次投产的数量等等因素千差万别,造成不同型号、不同领域对环境试验和可靠性试验的理解、实施存在差异.本文在分析两种试验的联系与区别同时,结合在航天领域产品的试验工作谈几点体会.
环境试验;
可靠性试验;
军用装备;
电子产品;
57.
环境应力筛选剔除产品早期故障的实践
王志刚
;
戴柏林
;
时淑萍
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
文章分析了产品的缺陷与故障类型,实施环境应力筛选中温度循环和振动筛出缺陷的比例分布,设计缺陷、工艺缺陷和元器件缺陷的比例,采用基线筛选方案时应注意的两个问题,缩短筛选周期的方法,现场使用故障和筛选故障的比较.
故障类型;
环境应力筛选;
缺陷类型;
电子产品;
58.
塑封半导体器件加速寿命试验方法及加速因子模型
丁芳芳
;
贾颖
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文介绍了塑封半导体器件常用的加速寿命试验方法,包括高温贮存、温度-湿度-偏置、高压蒸煮及强加速湿热等试验.文中着重介绍了高温贮存及温度-湿度-偏置试验的加速因子模型,并举例计算.并对几种加速寿命试验的加速性及再现性进行了比较.
塑封半导体器件;
加速寿命试验;
加速因子;
可靠性;
59.
环境应力筛选探讨
白康明
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
环境应力筛选是可靠性筛选的一种重要方法,本文主要介绍了环境应力筛选的一系列特点、与其它可靠性试验的关系,最后详细探讨环境应力筛选中的典型应力及其筛选度计算方法.
可靠性;
环境应力筛选;
电子产品;
60.
电子测量仪器的环境试验
陈克难
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文概述了电子测量仪器的温度试验、振动试验、冲击试验及运输试验和湿度试验,只有经过这一系列的环境试验的产品才能适应各种自然环境的考验.
电子仪器;
环境试验;
可靠性;
61.
贮存可靠性研究
刘春和
;
李久祥
;
李新俊
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
贮存可靠性是产品研发及使用中的一项重要战技指标.本文阐明了有关基本概念,论述了重要意义及应采取的可靠性措施,提出了当前存在的主要问题及解决办法.
贮存可靠性;
战略完好率;
电子产品;
系统效能;
军工产品;
62.
复杂系统贮存可靠性综合评估
于丹
;
杨军
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
系统贮存可靠性评估是一个复杂的工程和统计问题,其难易程度往往取决于模型的复杂程度,如系统结构、设备的寿命分布类型、试验数据类型、维修策略等.本文主要针对一般的复杂系统,探讨了相应的建模问题,并给出了相应的贮存可靠性指标的计算方法.本文的主要特点是将更新过程方法用于可修系统贮存可靠性模型的建模,并利用经典的更新过程中所用的一些处理方法给出了在不同维修策略下,不同类型系统在任意给定时刻的可靠度(或可用度)的解析表达式.本文所提供的是一种概率统计与工程背景相结合进行建模和评估方法.
复杂系统;
贮存可靠性;
维修策略;
贮存模型;
可用度函数;
63.
电子元器件的贮存可靠性及评价技术
杨丹
;
恩云飞
;
黄云
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
贮存可靠性是元器件可靠性研究的重要方面.阐述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析.
贮存可靠性;
长期自然贮存;
极限应力试验;
加速贮存寿命试验;
电子元器件;
64.
汽车电子元件和子系统的EMC测试
黄楚彬
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
文章介绍了目前国际上汽车电子元件和子系统的EMC的最新要求,以及最新企业标准已经涉及到而IEC标准尚未增加的两个测试项目的典型布置.
汽车电子元件;
EMC测试;
企业标准;
测试项目;
典型布置;
电磁兼容性;
65.
着火危险试验
张元钦
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
电工电子产品的带电回路由于故障、异常使用或误操作会引起温度过高、短路、闪络或飞弧等现象,从而经发着火的可能性.电工电子产品着火危险试验的最好方法是完全重复在实际中发生的条件,但在大多数情况下这是不可能的.因此,根据现实情况,电工电子产品着火危险试验最好尽可能模拟实际中发生的效应,评定着火危险程度.
火焰试验;
着火危险试验;
电工电子产品;
66.
太阳辐射试验技术
王忠
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
太阳辐射试验用于评价阳光辐射对产品所产生的热效应或光化学效应,在目前已知的辐射灯源中,氙弧灯输出的光谱最接近自然太阳光.进行太阳辐射时,应根据产品寿命期预期环境条件、产品本身的结构和材料特性和用途来确定辐射强度、温度、试验持续时间等试验参数和选择试验程序.应确保太阳辐射试验所用装置满足试验的要求.在试验时应注意受试产品的安装方式,并应采取相应措施防止紫外辐射、有害气体、爆炸、电击等人体的伤害.
太阳辐射;
环境试验;
电子产品;
67.
加速度测量装置结构可靠性设计
汪燕
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
在高速撞击下,加速度测量装置的结构可靠性设计是较难解决的问题.本文叙述了加速度测量装置的结构设计理念,原理及其方法.通过碰靶试验,测量装置完好无损、完成了加速度测量和状态信号测量.
加速度;
可靠性;
测量装置;
结构设计;
抗冲击性能;
电子产品;
68.
计算机技术在某武器控制系统装检测试中的应用
李玉平
;
傅国强
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文利用计算机技术,采用三维动画制作工具3DSMX3.0对设备进行三维建模,使设备与用户交互进行装检测试训练,解决了部队装检测试训练中问题,提高了部队装检测试训练水平.
计算机技术;
武器控制系统;
装检测试;
虚拟现实;
69.
建立某武器控制系统地测设备在线故障诊断及使用维修系统研究
李玉平
;
陈力国
;
程崇峰
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文根据武器控制系统地测设备现状,结合多年军事训练中出现的故障现象及地测设备维修经验,分析了制约地测设备使用维修的因素和影响二炮部队使用维修保障能力的根源.提出了采用现代技术实现地测设备故障诊断及使用维修的方法,使维修工作与瞬息万变的战场态势相吻合、相适应.
地测设备;
故障诊断;
使用维修;
武器控制系统;
70.
电子装联技术对产品可靠性的影响
倪靖伟
;
汪方宝
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
在引入工艺可靠性基本概念的基础上,本文具体介绍了微电子工艺可靠性、表面组装工艺可靠性、电缆组件的可靠性、电路组装工艺的检测及印制板组件防护设计等.较详细地分析了几种电子装联技术对产品可靠性的影响.
可靠性;
微电子;
表面组装;
电缆组件;
微电子工艺;
质量检测;
71.
战术导弹全弹故障模式影响及危害性分析方法研究
陈万创
;
张绍伟
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
针对战术导弹的特点,论述了对战术导弹分层次实施FMECA的方法.最后,本文结合工程实践,给出了导弹全弹FMECA应用实例介绍.
战术导弹;
故障模式影响分析;
危害性分析;
可靠性;
72.
环境应力对电子设备可靠性的影响
庞富丽
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文利用现场统计数据,通过对环境温度、环境湿度、舰船环境下设备的MTBF值以及设备故障对设备性能的影响程度进行比较,分析了环境应力对于电子设备可靠性的影响,并给出了MTBF同环境温度和湿度的定量关系,其结果同国外研究机构给出的结果是一致的.
环境应力;
电子设备;
可靠性;
73.
电子产品中的缺陷和故障类型及解决方法
王志刚
;
时淑萍
;
戴柏林
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
缺陷是产品中可能导致出现故障的固有或诱发的薄弱点.本文分析了电子产品中的缺陷和故障类型,提出了对电子产品的不同故障类型应有针对性地采取不同的解决措施.
质量故障;
可靠性故障;
耗损故障;
电子产品;
缺陷类型;
74.
基于故障树的安全评估方法研究
曹锡江
;
王少龙
;
窦汝春
;
徐顺义
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
运用故障树分析法的原理,提出了一种安全评价的方法.通过某核弹头的定量分析的算例,进一步说明了其研究步骤,这对安全评价的研究具有一定的指导意义.
定性分析;
定量分析;
安全评价;
核弹头;
故障树分析;
贮存可靠性;
75.
故障树分析(FTA)技术概述
莫世禹
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文介绍故障树分析技术,包括故障树分析方法、建造故障树的要求、基本规则、应注意的事项以及主要用途等.通过建树过程透彻了解系统,找出薄弱环节,以便改进系统设计、运行和维修,从而提高系统可靠性、维修性和安全性.
故障树分析;
可靠性;
维修性;
安全性;
电子产品;
76.
集成电路失效分析技术
费庆宇
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文通过实例综述了目前国内集成电路失效分析技术的现状和发展方向,包括:无损失效分析技术、信号寻迹技术、二次效应技术、样品制备技术和背面失效定位技术,为进一步开展这方面的工作提供参考.
集成电路;
失效分析;
可靠性;
77.
有限元模拟技术在电子部件可靠性分析中的应用
何小琦
;
邱宝军
;
宋芳芳
;
杨序贵
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文分析了有限元计算模拟技术在分析电子部件可靠性的优势所在,以及应用的基本方法,给出了行波管电子枪抗振性能和功率DC/DC电源热性能计算模拟的两个应用案例.
有限元;
电子枪;
固有频率;
可靠性;
行波管;
计算机模拟;
78.
微电子器件多退化机理可靠性寿命外推模型
李志国
;
李杰
;
郭春生
;
程尧海
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文提出了微电子器件一种新的快速评价方法,具有快速、准确、成本低、能观察分析参数退化的全过程,能有效的分析器件的退化机理.与常规方法不同,可对单样品求出不同退化阶段的失效激活能和寿命,根据其参数退化的温度范围可外推出单样品工作条件下的寿命.通过一定数量的对比试验,本方法与常规方法有可比性.
微电子器件;
退化机理;
可靠性;
寿命外推模型;
评价方法;
79.
微波器件失效分析结果统计与分析
来萍
;
李萍
;
张晓明
;
郑廷珪
;
李少平
;
徐爱斌
;
施明哲
;
牛付林
;
何小琦
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
本文对56例微波器件失效分析结果进行了统计和分析,得到了微波器件在使用中失效的主要原因、分类及其分布,为微波器件的生产方和使用方提供了有价值的统计数据及分析结果.
微波器件;
失效分析;
统计分析;
可靠性;
80.
闩锁效应对CMOS器件的影响分析
林晓玲
;
费庆宇
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
CMOS电路的引出端(包括输出、输入、电源端和地端)受到外界电压电流信号的触发,容易产生闩锁效应,闩锁效应不但是CMOS电路的主要失效机理,而且是阻碍CMOS电路集成度提高的主要因素之一.本文同时列举了几个闩锁效应引起器件失效的例子,以供参考.
寄生可控硅;
闩锁效应;
CMOS器件;
集成电路;
可靠性;
81.
型号可靠性管理浅谈
李锋飞
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
可靠性技术促进了我国空间事业的发展,是型号任务研制逐步从试验阶段进入应用阶段的关键技术之一.本文简要叙述了星载电子产品的可靠性工程项目管理要求和一些管理问题.
可靠性工程;
可靠性管理;
星载电子产品;
82.
MOS器件的X射线辐照效应
刘远
;
李若瑜
;
恩云飞
;
李斌
;
罗宏伟
;
师谦
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
本文研究了在10Kev X射线辐照情况下MOS器件的阈值电压随总剂量和剂量率的改变而变化的趋势.实验结果表明,辐照后,与用C060作为辐射源辐照所做实验结果不同的是,在大剂量率的情况下,NMOS器件的阈值电压漂移幅度远大于PMOS器件的漂移幅度,文章对这种现象给出了合理的解释.
MOS器件;
X射线;
辐照效应;
阈值电压;
漂移幅度;
场效应器件;
可靠性;
83.
薄栅氧化层斜坡电压TDDB寿命评价
王茂菊
;
李斌
;
章晓文
;
陈平
;
韩静
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
随着超大规模集成电路的不断发展,薄栅氧化层的质量对器件和电路可靠性的作用越来越重要.经时绝缘击穿(TDDB)(time dependent dielectric breakdown)是评价薄栅氧化层质量的重要方法.本文着重于薄栅氧化层TDDB可靠性评价的斜坡电压试验方法的研究,基于斜坡电压实验,提取模型参数,分别利用线性场模型和定量物理模型外推出工作电压下栅氧化层的寿命.通过分析斜坡电压实验时氧化层的击穿过程,提出斜坡电压实验时利用统一模型外推栅氧化层的寿命比较合适.
薄栅氧化物;
击穿机理;
斜坡电压法;
寿命评价;
集成电路;
绝缘击穿;
可靠性;
84.
基于FEM的栅控电子枪模态分析
宋芳芳
;
何小琦
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
针对某型号行波管在扫频振动中出现阴栅打火这一问题,使用有限元模拟计算方法和动力学模态试验方法研究分析行波管栅控电子枪的固有频率及模态振型,并基于以上分析提出优化措施.
栅控电子枪;
固有频率;
模态振型;
有限元;
功率行波管;
可靠性;
85.
军用微电子抗高过载技术研究综述
夏俊生
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
探讨了过载、高过载概念的基本内涵,阐述了军用微电子抗高过载技术研究的主要内容和研究方法,介绍了抗高过载研究的初步结果,说明了抗高过载研究的重要意义.
可靠性;
军用微电子产品;
集成电路;
抗高过载技术;
86.
几种新型的电子显示器件
杨晓明
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
本文就目前出现的几种新型的电子显示器件做一个介绍.从技术层面上分析各种产品的优劣性,列出部分产品的主要指标,从而对于这些产品有个认识.
电子显示器;
清晰度;
亮度;
对比度;
使用寿命;
87.
电子电器设备中限制使用的六种有害物质的检测技术
周翠凤
;
罗道军
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
本文对电子电器设备中限制使用的六种有害物质汞、镉、铅、六价铬、多溴联苯和多溴联苯醚的分析检测方法做了简要评述.
有害物质;
重金属元素;
溴化阻燃剂;
电器设备;
检测技术;
电子产品;
88.
PCB板的腐蚀失效及分析案例
徐爱斌
;
郑廷圭
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
|
2004年
摘要:
本文通过对某型号"快译通"产品用印制电路版(PCB板)进行表观分析和破坏性分析,找出了PCB板腐蚀失效的原因,并提出了改进措施和建议.
腐蚀失效;
印制电路板;
电子产品;
故障诊断;
氯离子污染;
89.
关于电子装备软件研制的质量保证
李贤玉
;
王华
;
贺晖
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
在明确电子装备及软件质量意义的基础上,本文按开发阶段对于电子装备软件研制质量体系要素的主要工作进行了具体的归纳与阐述,同时提出了装备软件研制质量保证的有关建议;该有助于电子装备软件与系统研制质量目标的顺利实现,并且对其他系统软件研制有着一定的借鉴作用.
电子装备;
质量保证;
软件开发;
90.
软件缺陷模型与实现方法
张洪伟
;
韩柯
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
本文通过研究、分析国际标准化组织软件测试能力认证的基本模型和要求,研究国内外不同类型软件缺陷和故障常见模式,并基于测试用例建立软件缺陷模型;开发通用典型测试样例,在样例中有目的的,合理的植入软件缺陷,以客观反映软件测试机构的技术能力水平.
软件缺陷;
缺陷分类;
缺陷植入;
软件测试;
91.
类信息提取技术研究
于秀山
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
本文以面向对象程序中的类为研究对象,利用.NET平台提供的类库,提取.exe或.d11中与测试有关的信息,从而更加有效地对软件进行测试.
软件测试;
信息提取;
面向对象程序;
92.
电子设备的可靠性设计分析
张青山
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
可靠性设计是电子设备研制过程中的重要组成部分.本文详述了可靠性基本概念以及电子设备可靠性设计的三个主要阶段——可靠性分析、可靠性预计和可靠性试验,提出了提高电子设备可靠性的技术措施.
可靠性分析;
可靠性预计;
可靠性试验;
电子设备;
可靠性设计;
93.
优化设计技术在军品研制中的应用
雷彦茂
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》
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2004年
摘要:
本文讨论了优化设计的概念以及在军品研制中的应用,优化设计技术是提高产品设计质量,确保设计一次成功的有效保证.
军事装备;
电子产品;
产品设计;
可靠性;
国际标准;
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