机译:电子元件安装膜载带,半导体装置的检查装置以及半导体装置的检查方法
要解决的问题:提供一种用于电子部件装载膜载带的检查装置和检查方法,该检查装置和检查方法使得检查人员能够以合理的姿势在坐椅上检查电子部件安装膜载带的外观。在进行检查的情况下,不依赖于放大透镜装置的放大率,在检查装置的尺寸紧凑的情况下,可以有效地利用用于检查工作的室内空间。
解决方案:放卷盘3和卷带盘7彼此相邻布置,检查位置10布置成放卷盘3和卷带盘7彼此相邻布置从检查位置10的位置开始,按照顺序将卷取卷轴3和卷取卷轴7按顺序安装。从卷取卷轴3馈送的薄膜载带T在检查点10处沿基本竖直的方向转移。然后,由放大镜装置11检查沿着该基本垂直线方向延伸的薄膜载带T。
版权:(C)2005,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2005231671A
专利类型
公开/公告日2005-09-02
原文格式PDF
申请/专利权人 MITSUI MINING & SMELTING CO LTD;
申请/专利号JP20040043259
申请日2004-02-19
分类号B65B15/04;C25D21/12;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 22:34:01