'NII PP' Tomsk, Russian;
electrophysical parameters; semiconductor materials; measuring approaches; measuring bench; diagnostics;
机译:剪切:一种用于复合材料无损检测的光学测试方法
机译:金属氧化物半导体器件中栅极介电材料的材料选择方法
机译:二次电子组成对比成像方法在异质结半导体器件和多层材料微观结构研究中的应用
机译:由毛细管多孔材料制成的产品的非破坏性溶剂扩散系数控制的方法和装置
机译:宽带隙半导体材料和器件结构的无损X射线表征
机译:使用实时显示光学相干层析成像技术的LED无损检测方法
机译:用于无损检测半导体材料的脉冲X射线设备辐射特性的仿真