机译:降低存储单元之间耦合噪声的三级非易失性半导体存储器件及其驱动方法
要解决的问题:提供一种具有高集成度和高可靠性的非易失性半导体存储器件,并提供其驱动方法。解决方案:公开了一种降低存储单元之间的耦合噪声的三级非易失性半导体存储器件及其驱动方法。本发明的非易失性半导体存储器件包括可被控制为三个阈值电压电平的存储单元和用于控制该存储单元的页面缓冲器,并且与两级非易失性半导体存储器件相比具有更高的集成度和更高的集成度。可靠性要比四级非易失性半导体存储器件高。在非易失性半导体存储器件中,在第二和第三页编程步骤中被控制为具有相对较小的电压差的存储单元被布置在被编程为第二阈值电压组的第一存储单元的左侧和右侧。在首页编程步骤中。因此,在最坏情况下,本发明的非易失性半导体存储器件和驱动方法可以减小存储单元之间的耦合噪声。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007226952A
专利类型
公开/公告日2007-09-06
原文格式PDF
申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD;
申请/专利号JP20070036466
申请日2007-02-16
分类号G11C16/06;G11C16/04;G11C16/02;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:12:42