机译:半导体存储装置测试装置具有地址供给电路,该地址供给电路将具有存储器输入地址的存储器输入位提供给半导体存储器,其中存储器输入位由逻辑运算电路输入
公开/公告号DE102007018342A1
专利类型
公开/公告日2007-10-25
原文格式PDF
申请/专利权人 ADVANTEST CORP.;
申请/专利号DE20071018342
发明设计人 FUJIWARA MASAKI;
申请日2007-04-16
分类号G11C29/56;G11C29/18;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 20:29:08