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Method of manufacturing lithography mask, lithography mask, and lithography mask exposure method

机译:光刻掩模的制造方法,光刻掩模和光刻掩模的曝光方法

摘要

Cleaning is carried out by using a sulfuric acid type detergent at a resist stripping and cleaning step (step 5) in a semitranslucent portion forming process and a resist stripping and cleaning step (step 10) in a shielding band forming process, and a sulfuric acid removing step of partially or wholly removing a surface layer portion in a pattern into which a sulfate ion is adsorbed is then carried out to effectively remove the adsorbed sulfate ion.
机译:通过在半透明部分形成工艺中的抗蚀剂剥离和清洁步骤(步骤5)和在屏蔽带形成过程中的抗蚀剂剥离和清洁步骤(步骤10)中使用硫酸型洗涤剂进行清洁,然后,进行除去部分或全部除去吸附有硫酸根离子的图案的表面层部分的除去步骤,以有效地除去吸附的硫酸根离子。

著录项

  • 公开/公告号JP4475510B2

    专利类型

  • 公开/公告日2010-06-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HOYA株式会社;

    申请/专利号JP20040188157

  • 发明设计人 森 順二;宅島 克宏;

    申请日2004-06-25

  • 分类号G03F1/08;G03F7/20;G03F7/42;H01L21/027;H01L21/304;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 18:58:15

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