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A method for producing a semiconductor element with a high - k - gate - dielectric layer and a gate electrode made of metal

机译:具有高k栅介质层和金属栅电极的半导体元件的制造方法。

摘要

A method for making a semiconductor device is described. That method comprises forming a first dielectric layer on a substrate, then forming a trench within the first dielectric layer. After forming a second dielectric layer on the substrate, a first metal layer is formed within the trench on a first part of the second dielectric layer. A second metal layer is then formed on the first metal layer and on a second part of the second dielectric layer.
机译:描述了一种制造半导体器件的方法。该方法包括在衬底上形成第一电介质层,然后在第一电介质层内形成沟槽。在衬底上形成第二电介质层之后,在第二电介质层的第一部分上的沟槽内形成第一金属层。然后在第一金属层上和第二介电层的第二部分上形成第二金属层。

著录项

  • 公开/公告号DE112005000854B4

    专利类型

  • 公开/公告日2009-12-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DE20051100854T

  • 发明设计人

    申请日2005-03-31

  • 分类号H01L21/8234;H01L21/8238;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 18:29:08

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