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PATTERN ARRANGEMENT METHOD, SILICON WAFER AND SEMICONDUCTOR DEVICE

机译:图案排列方法,硅晶片及半导体装置

摘要

A pattern arrangement method including using a stepper to arrange a plurality of chip patterns arranged parallel to a first direction and a second direction on a silicon wafer using a reticule which includes a plurality of patterns expanded in the first direction and the second direction which intersects the first direction and arranged linearly and intermittently, wherein the stepper adjusts the position of the reticule and the silicon wafer which faces the reticule so that an axis in which a cleavage plane of the silicon wafer and a surface arranged with the pattern on the silicon wafer intersect, and the first direction are different.
机译:一种图案布置方法,包括使用步进器,使用包括与第一方向和第二方向相交的多个图案的标线在硅晶片上布置与第一方向和第二方向平行布置的多个芯片图案。步进器以第一方向并线性且断续地布置,其中,步进器调节掩模版和面对掩模版的硅晶片的位置,以使硅晶片的切割面与在硅晶片上布置有图案的表面相交的轴线相交。 ,并且第一个方向不同。

著录项

  • 公开/公告号US2011140214A1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-06-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TATSURO TAKAGAKI;

    申请/专利号US20100963862

  • 发明设计人 TATSURO TAKAGAKI;

    申请日2010-12-09

  • 分类号H01L29/84;H01L23/544;H01L21/68;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:15:50

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