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for electron beam lithography resist

机译:用于电子束光刻胶

摘要

This invention more specifically relates to a resist for electron beam lithography is a copolymer of two types of organosiloxane compound relates to a negative resist . When using an electron beam resist for lithography of the present invention , there is an effect that the production of better quality of the semiconductor device is easy to manufacture as well as high sensitivity and uniform than that of the resist characteristics, long-term retention of the electron beam .
机译:本发明更具体地涉及一种用于电子束光刻的抗蚀剂,它是涉及负型抗蚀剂的两种类型的有机硅氧烷化合物的共聚物。当使用本发明的用于光刻的电子束抗蚀剂时,具有如下效果:与抗蚀剂特性相比,易于制造更好质量的半导体器件,并且具有高灵敏度和均匀性,以及长期保留。电子束。

著录项

  • 公开/公告号KR101061526B1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-09-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20080132248

  • 发明设计人 윤도영;김기범;

    申请日2008-12-23

  • 分类号G03F7/075;G03F7/004;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:49:48

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