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WAFER DICING PRESS AND METHOD AND SEMICONDUCTOR WAFER DICING SYSTEM INCLUDING THE SAME

机译:晶圆切块压力机和方法以及包括该晶圆切块方法的半导体晶圆切块系统

摘要

In a wafer dicing press for reducing time and cost for wafer dicing and for evenly applying a dicing pressure to a whole wafer, a wafer dicing press includes a support unit supporting a first side of a wafer; and a pressurization device applying a pressure, by dispersing the pressure, to a second side of the wafer so that a laser-scribed layer of the wafer operates as a division starting point. Accordingly, the wafer dicing press reduces laser radiation and pressure-application times for dividing a wafer into semiconductor devices. This increased efficiency is achieved without increasing the likelihood of damaging the wafer.
机译:在用于减少晶片切割的时间和成本并向整个晶片均匀地施加切割压力的晶片切割机中,晶片切割机包括:支撑单元,支撑单元支撑晶片的第一面;支撑单元;支撑单元;支撑单元;支撑单元;支撑单元;支撑单元。加压装置,其通过分散压力而对晶片的第二面施加压力,以使晶片的激光划线层作为分割起点。因此,晶片切割机减少了用于将晶片划分成半导体器件的激光辐射和压力施加时间。在不增加损坏晶片的可能性的情况下实现了提高的效率。

著录项

  • 公开/公告号US2012196426A1

    专利类型

  • 公开/公告日2012-08-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 WON-CHUL LIM;

    申请/专利号US201113336218

  • 发明设计人 WON-CHUL LIM;

    申请日2011-12-23

  • 分类号H01L21/78;B65H35/10;B30B1;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 17:32:28

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