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TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR TESTING OBJECT MEMORY STORING DATA RAW WITH ERROR CORRECTING CODES ADDED

机译:添加了错误校正码的对象存储数据原始数据的测试装置和测试方法

摘要

A test apparatus for error correction code is tested under test memory for storing additional data strings, each data that is contained in the column data read out from the memory-under-test, and a logic comparator for comparing the expected pre-generated value, the expected If the value and the data error counting section for counting the number of data do not match, the data error counting section counts the value in advance exceeds the predetermined upper limit number or more, the test apparatus comprising a defect detection section for detecting the failure of the MUT It provides. ; Error correction code, data error correction, the error count data, a memory testing apparatus, the memory test method.
机译:在用于存储附加数据串的测试存储器下测试用于纠错码的测试装置,该存储器用于存储附加数据串,从被测试存储器读出的列数据中包含的每个数据,以及用于比较预期的预生成值的逻辑比较器,如果该值与用于计数数据数量的数据错误计数部件不匹配,则该数据错误计数部件预先计数该值超过预定上限数量或更多,该测试设备包括缺陷检测部件,用于检测它提供的MUT的故障。 ;纠错码,数据纠错,错误计数数据,存储器测试装置,存储器测试方法。

著录项

  • 公开/公告号KR101174936B1

    专利类型

  • 公开/公告日2012-08-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20077010763

  • 发明设计人 사토 신야;

    申请日2005-09-15

  • 分类号G11C29/00;G11C16/34;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:07:37

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