Neutrons; Error correction codes; SDRAM; Polyethylene; Testing; Radiation effects;
机译:Xilinx XQR5VFX130内的嵌入式错误检测和纠正启用的块随机存取存储器(块RAM)的单事件翻转(SEU)结果
机译:静态随机存取存储器中快速中子诱发的单事件扰动的评估和蒙特卡罗N粒子代码(MCNPX)的仿真
机译:质子诱导的单事件扰动测试和nm器件的软错误率预测
机译:中子引起的单一事件扰乱(SEU)具有嵌入式纠错码(ECC)的商业内存设备的测试
机译:现代电子设备中质子和中子引起的单事件扰动的能量沉积机制。
机译:记忆障碍测试的效率和准确性试验1记忆障碍测试的前10个项目存在错误以及五个用于预测无效测试性能的嵌入式措施
机译:使用代码错误和拍频测试方法来识别1 GHz模数转换器中的单事件翻转敏感电路
机译:用于256k静态Ram(随机存取存储器)的sEU(单事件翻转)测试技术以及重离子和质子引起的扰乱的比较