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IEEE Radiation Effects Data Workshop
IEEE Radiation Effects Data Workshop
召开年:
2017
召开地:
New Orleans(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Fast and Low-Cost Soft Error Testing of a COTS Microcontroller with Alpha Particle Source
机译:
具有Alpha粒子源的COTS单片机的快速低成本低成本软错误测试
作者:
Felipe G. H. Leite
;
Vitor A. P. Aguiar
;
Nemitala Added
;
Renato Giacomini
;
Nilberto H. Medina
;
Roberto B. B. Santos
;
Marcilei A. G. Silveira
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Ionizing radiation;
Microcontrollers;
Silicon;
Argon;
Alpha particles;
Sensitivity;
2.
Total Dose Radiation Response of n-Channel Enhancement Mode Field Effect Transistors over Wide Operation Temperature Range
机译:
宽工作温度范围内n通道增强模式场效应晶体管的总剂量辐射响应
作者:
Alexander S. Bakerenkov
;
Vladislav A. Felitsyn
;
Vasily V. Orlov
;
Alexander S. Rodin
;
Gennady I. Zebrev
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Temperature measurement;
Transistors;
Temperature distribution;
Voltage measurement;
Radiation effects;
Temperature sensors;
3.
Heavy Ion and TID Characterization of 3.3 V Voltage Supervisors
机译:
3.3 V电压监控器的重离子和TID表征
作者:
Anthony L. Wilson
;
Dale Walz
;
Younes Lotfi
;
Ken Merkel
;
Matt Von Thun
;
Teresa Farris
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Pins;
Ions;
Monitoring;
Threshold voltage;
Total ionizing dose;
Testing;
4.
Proton Cross-Sections from Heavy-Ion Data in GaAs Devices
机译:
GaAs器件中重离子数据的质子截面
作者:
D. L. Hansen
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Data models;
Protons;
Gallium arsenide;
Ions;
III-V semiconductor materials;
Indium phosphide;
Predictive models;
5.
Guide to the 2016 IEEE Radiation Effects Data Workshop Record
机译:
2016 IEEE辐射效应数据研讨会记录指南
作者:
David M. Hiemstra
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Semiconductor diodes;
Operational amplifiers;
Radiation effects;
Conferences;
Protons;
MOSFET;
Microelectronics;
6.
Proton Radiation Effects Assessment of a Commercial 12-Megapixel CMOS Imager
机译:
商用12兆像素CMOS成像器的质子辐射效应评估
作者:
Randall Milanowski
;
Raichelle Aniceto
;
Fred Hardy
;
Bert Vermeire
;
Michael Jacox
;
Slaven Moro
;
Kerri Cahoy
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Histograms;
Particle beams;
Lenses;
Protons;
Annealing;
Clocks;
Radiation effects;
7.
Experimental Methods and Results for the Evaluation of Triple Modular Redundancy SEU Mitigation Techniques with the Xilinx Kintex-7 FPGA
机译:
Xilinx Kintex-7 FPGA评估三重模块化冗余SEU缓解技术的实验方法和结果
作者:
Krzysztof M. Sielewicz
;
Gianluca Aglieri Rinella
;
Matthias Bonora
;
Piero Giubilato
;
Matteo Lupi
;
Marcus J. Rossewij
;
Joachim Schambach
;
Tomas Vanat
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Registers;
Field programmable gate arrays;
Table lookup;
Logic testing;
Generators;
Radiation effects;
8.
Towards a Qualification Data Set: Expanded SEE Data on the P2020 Processor
机译:
迈向资格数据集:P2020处理器上的扩展SEE数据
作者:
Steven M. Guertin
;
Sergeh Vartanian
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Registers;
Computer crashes;
Testing;
Sensitivity;
Protons;
Writing;
Software;
9.
Compendium of Current Single Event Effects Results from NASA Goddard Space Flight Center and NASA Electronic Parts and Packaging Program
机译:
美国宇航局戈达德太空飞行中心和美国宇航局电子零件与包装计划的当前单项事件结果汇总
作者:
Martha V. OBryan
;
Kenneth A. LaBel
;
Edward P. Wilcox
;
Dakai Chen
;
Michael J. Campola
;
Megan C. Casey
;
Jean Marie Lauenstein
;
Edward J. Wyrwas
;
Steven M. Guertin
;
Jonathan A. Pellish
;
Melanie D. Berg
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Ions;
NASA;
Testing;
Protons;
Logic gates;
Performance evaluation;
Voltage measurement;
10.
2017 Compendium of Recent Test Results of Single Event Effects Conducted by the Jet Propulsion Laboratory's Radiation Effects Group
机译:
2017年喷气推进实验室辐射效应小组进行的单事件效应最新测试结果简编
作者:
Gregory R. Allen
;
Sergeh Vartanian
;
Farokh Irom
;
Leif Z. Scheick
;
Philippe Adell
;
Michael D. OConnor
;
Steven M. Guertin
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
CMOS technology;
Ions;
Testing;
Radiation effects;
Microelectronics;
Cyclotrons;
Field programmable gate arrays;
11.
Testing the Radiation Hardness of Thick-Film Resistors for a Time-Of-Flight Mass Spectrometer at Jupiter with 18 MeV Protons
机译:
在Jupiter上用18 MeV质子测试飞行时间质谱仪的厚膜电阻器的辐射硬度
作者:
D. Lasi
;
M. Tulej
;
M. B. Neuland
;
P. Wurz
;
T. S. Carzaniga
;
K. P. Nesteruk
;
S. Braccini
;
H. R. Elsener
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Instruments;
Resistors;
Radiation effects;
Jupiter;
Aluminum oxide;
Ions;
Protons;
12.
Compendium of Current Total Ionizing Dose and Displacement Damage Results from NASA Goddard Space Flight Center and NASA Electronic Parts and Packaging Program
机译:
美国宇航局戈达德太空飞行中心和美国宇航局电子零件与包装计划目前的总电离剂量和位移损伤结果简编
作者:
Alyson D. Topper
;
Michael J. Campola
;
Dakai Chen
;
Megan C. Casey
;
Ka-Yen Yau
;
Donna J. Cochran
;
Kenneth A. LaBel
;
Raymond L. Ladbury
;
Timothy K. Mondy
;
Martha V. OBryan
;
Jonathan A. Pellish
;
Edward P. Wilcox
;
Edward J. Wyrwas
;
Michael A. Xapsos
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Transistors;
Degradation;
NASA;
Operational amplifiers;
Protons;
Sensitivity;
Total ionizing dose;
13.
Compendium of Single Event Transient (SET) and Total Ionizing Dose (TID) Test Results for Commonly Used Voltage Comparators
机译:
通用电压比较器的单事件瞬态(SET)和总电离剂量(TID)测试结果简编
作者:
Amanda N. Bozovich
;
Farokh Irom
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Transient analysis;
Radiation hardening (electronics);
Sensitivity;
Performance evaluation;
Single event transients;
Transistors;
Market research;
14.
A Fast and Radiation-Hard Single-Photon Counting ASIC for the Upgrade of the LHCb RICH Detector at CERN
机译:
快速和辐射困难的单光子计数ASIC,用于在CERN升级LHCb RICH检测器
作者:
Mirco Andreotti
;
Wander Baldini
;
Mateusz Baszczyk
;
Roberto Calabrese
;
Andrea Candelori
;
Paolo Carniti
;
Lorenzo Cassina
;
Angelo Cotta Ramusino
;
Piotr Dorosz
;
Massimiliano Fiorini
;
Andrea Giachero
;
Claudio Gotti
;
Wojciech Kucewicz
;
Eleonora Luppi
;
Matteo Maino
;
Roberto Malaguti
;
Serena Mattiazzo
;
Luca Minzoni
;
Ilaria Neri
;
Luciano Libero Pappalardo
;
Gianluigi Pessina
;
Luca Silvestrin
;
Luca Tomassetti
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Single event upsets;
Semiconductor device measurement;
Registers;
Current measurement;
Detectors;
15.
Heavy-Ion Device Cross-Section Response in Magnetic Tunnel Junctions for a Radiation Hardened 16Mb Magnetoresistive Random Access Memory (MRAM)
机译:
辐射硬化的16Mb磁阻随机存取存储器(MRAM)在磁性隧道结中的重离子器件截面响应
作者:
Romney R. Katti
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Magnetic tunneling;
Ions;
Resistance;
Random access memory;
Magnetosphere;
Radiation hardening (electronics);
Tunneling magnetoresistance;
16.
Single Event Effect Assessment of a 1-Mbit Commercial Magneto-resistive Random Access Memory (MRAM)
机译:
1兆位商用磁阻随机存取存储器(MRAM)的单事件效果评估
作者:
Philippe C. Adell
;
Slaven Moro
;
Lionel Gouyet
;
Christian Chatry
;
Bert Vermeire
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Magnetic tunneling;
Radiation effects;
Ions;
Orbits;
Nonvolatile memory;
Earth;
Saturation magnetization;
17.
Radiation Testing of a Flash NAND Device
机译:
闪存NAND设备的辐射测试
作者:
D. L. Hansen
;
F. Meraz
;
J. Montoya
;
S. Roberg
;
G. Williamson
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Testing;
Performance evaluation;
Flash memories;
Ions;
Total ionizing dose;
Error correction codes;
18.
Measurement of the Neutron Field Characteristics Inside and Outside the Vault of a 70 MeV Cyclotron
机译:
70 MeV回旋加速器穹顶内外的中子场特性的测量
作者:
Jacques Dubeau
;
Sampath S. Hakmana Witharana
;
Roy J. Peterson
;
Maxim Kiselev
;
Edna M. Sacay
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Neutrons;
Current measurement;
Cyclotrons;
Particle beams;
Production;
Energy measurement;
Isotopes;
19.
A Radiation Hardened, High-Voltage, High-Precision Analog Family
机译:
防辐射,高压,高精度模拟系列
作者:
W. H. Newman
;
N. W. van Vonno
;
O. Mansilla
;
L. G. Pearce
;
E. J. Thomson
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Testing;
Radiation effects;
Temperature sensors;
Neutrons;
Operational amplifiers;
Instruments;
Temperature distribution;
20.
Single Event Upsets Induced by a few MeV Neutrons in SRAMs and FPGAs
机译:
SRAM和FPGA中的几个MeV中子引起的单事件翻转
作者:
Damien Lambert
;
François Desnoyers
;
Didier Thouvenot
;
Olivier Riant
;
Jérémy Galinat
;
Bruno Azaïs
;
Thierry Colladant
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Neutrons;
Random access memory;
Field programmable gate arrays;
Single event upsets;
Radiation effects;
Sea level;
Shape;
21.
Architectural Consequences of Radiation Performance in a Flash NAND Device
机译:
闪存NAND器件中辐射性能的架构后果
作者:
D. L. Hansen
;
R. Hillman
;
F. Meraz
;
J. Montoya
;
G. Williamson
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Performance evaluation;
Testing;
Temperature measurement;
Flash memories;
Tunneling magnetoresistance;
Orbits;
22.
Single-Event Effects Characterization of a 12-bit 200MSps A-to-D Converter in 32nm SOI CMOS with MilliBeam™ and Broad-Beam Heavy-Ions
机译:
具有MilliBeam™和宽束重离子的32nm SOI CMOS中的12位200MSps A / D转换器的单事件效应表征
作者:
Alfio Zanchi
;
Manuel Cabanas-Holmen
;
Paul Eaton
;
Will Burke
;
Roger Brees
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Ions;
Laser beams;
Clocks;
Pipelines;
Cyclotrons;
Instruments;
Testing;
23.
Neutron Induced Single Event Upset (SEU) Testing of Commercial Memory Devices with Embedded Error Correction Codes (ECC)
机译:
带有嵌入式纠错码(ECC)的商业存储设备的中子诱导单事件翻转(SEU)测试
作者:
John M. Bird
;
Michael K. Peters
;
Travis Z. Fullem
;
Michael J. Tostanoski
;
Terrence F. Deaton
;
Kristianto Hartojo
;
Roy E. Strayer
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Neutrons;
Error correction codes;
SDRAM;
Polyethylene;
Testing;
Radiation effects;
24.
Recent Radiation Test Results for Trench Power MOSFETs
机译:
沟槽功率MOSFET的最新辐射测试结果
作者:
Jean-Marie Lauenstein
;
Megan C. Casey
;
Edward P. Wilcox
;
Anthony M. Phan
;
Hak S. Kim
;
Alyson D. Topper
;
Raymond L. Ladbury
;
Kenneth A. LaBel
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Ions;
Logic gates;
MOSFET;
Threshold voltage;
Radiation effects;
Current measurement;
Protons;
25.
TID, ELDRS and SEE Hardening and Testing on Mixed Signal Telemetry LX7730 Controller
机译:
混合信号遥测LX7730控制器的TID,ELDRS和SEE强化和测试
作者:
Mathieu Sureau
;
Russell Stevens
;
Marco Leuenberger
;
Nadia Rezzak
;
Dorian Johnson
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Testing;
Telemetry;
Performance evaluation;
Radiation hardening (electronics);
Single event upsets;
Field programmable gate arrays;
Flip-flops;
26.
High Energy Proton Irradiation Results for the DSP Cores of the KeyStone II System-on-Chip (SoC) 66AK2L06
机译:
KeyStone II片上系统(SoC)66AK2L06的DSP内核的高能质子辐照结果
作者:
Qingyu Chen
;
David M. Hiemstra
;
Haibin Wang
;
Li Chen
;
Valeri Kirischian
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Protons;
Radiation effects;
Performance evaluation;
Single event upsets;
Cache memory;
Testing;
System-on-chip;
27.
Radiation Effects Characterization of TI LMH5401-SP Ultra-wideband Fully Differential Amplifier (FDA)
机译:
TI LMH5401-SP超宽带全差分放大器(FDA)的辐射效应表征
作者:
S. Narayanan
;
V. Narayanan
;
C. Yots
;
J. Cruz-Colon
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Testing;
Pins;
Ions;
Differential amplifiers;
Total ionizing dose;
Radio frequency;
28.
An Improved SEL Test of the ADV212 Video Codec
机译:
ADV212视频编解码器的改进的SEL测试
作者:
Edward P. Wilcox
;
Michael J. Campola
;
Seshagiri Nadendla
;
Madhusudan Kadari
;
Robert A. Gigliuto
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Testing;
Ions;
Radiation effects;
Sensitivity;
Gold;
NASA;
Optical beams;
29.
Single Event Upset Characterization of the Tegra K1 Mobile Processor Using Proton Irradiation
机译:
使用质子辐照对Tegra K1移动处理器进行单事件翻转表征
作者:
Haibin Wang
;
Qingyu Chen
;
Li Chen
;
David M. Hiemstra
;
Valeri Kirischian
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Graphics processing units;
Protons;
Radiation effects;
Single event upsets;
Performance evaluation;
Particle beams;
Monitoring;
30.
Single Event Upset Characterization of the Zynq UltraScale+ MPSoC Using Proton Irradiation
机译:
使用质子辐照对Zynq UltraScale + MPSoC进行单事件翻转表征
作者:
David M. Hiemstra
;
Valeri Kirischian
;
Jakub Brelski
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Protons;
Field programmable gate arrays;
Single event upsets;
Random access memory;
Performance evaluation;
Radiation effects;
Monitoring;
31.
The Impact of Annealing on the Following Radiation Degradation Rate of Bipolar Devices
机译:
退火对双极型器件后续辐射降解速率的影响
作者:
Alexander S. Bakerenkov
;
Alexander S. Rodin
;
Viacheslav S. Pershenkov
;
Vladislav A. Felitsyn
;
Yury D. Bursian
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Annealing;
Degradation;
Radiation effects;
Temperature measurement;
Transistors;
Electric variables measurement;
Performance evaluation;
32.
1.8 MeV Proton Testing of Thermally Stabilized GaN HEMT RF Power Devices in Three Operational Modes
机译:
三种工作模式下的热稳定GaN HEMT射频功率器件的1.8 MeV质子测试
作者:
M. W. McCurdy
;
R. D. Schrimpf
;
D. M. Fleetwood
;
K. Bole
;
B. S. Poling
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Radio frequency;
HEMTs;
Gallium nitride;
Protons;
Radiation effects;
Performance evaluation;
Degradation;
33.
Selectable Fluence Accuracy at the BASE Heavy Ion Facility
机译:
BASE重离子工厂的可选注量精度
作者:
Alexander Donoghue
;
Larry Phair
;
Michael B. Johnson
;
Brien Ninemire
;
Scott Small
;
Reba Siero
;
Thomas L. Gimpel
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Calibration;
Ions;
Testing;
Shape;
Cyclotrons;
Time measurement;
Ion beams;
34.
Space and Terrestrial Radiation Response of Silicon Carbide Power MOSFETs
机译:
碳化硅功率MOSFET的空间和地面辐射响应
作者:
Akin Akturk
;
James M. McGarrity
;
Richard Wilkins
;
Adam Markowski
;
Brendan Cusack
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Logic gates;
Silicon carbide;
MOSFET;
Ions;
Neutrons;
Transient analysis;
Threshold voltage;
35.
Total Dose Testing of Advanced Mixed Signal ADC/DAC Microcircuits
机译:
高级混合信号ADC / DAC微电路的总剂量测试
作者:
David Alexander
;
Alonzo Vera
;
James Aarestad
;
Gabriel V. Urbaitis
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Monitoring;
Testing;
Radiation effects;
Performance evaluation;
Degradation;
Universal Serial Bus;
Instruments;
36.
ELDRS Characterization up to 100 krad of Texas Instruments' Dual Amplifier LM158
机译:
德州仪器(TI)的双放大器LM158的ELDRS表征高达100 krad
作者:
Brianna Myers
;
Kirby Kruckmeyer
;
Thang Trinh
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Power supplies;
Radiation effects;
Ceramics;
Gain;
Resistance;
Military standards;
Pins;
37.
SEU Characterization of an Embedded 130nm Compiled SRAM in Heavy Ion and Proton Environments
机译:
重离子和质子环境中嵌入式130nm编译SRAM的SEU表征
作者:
Matt Von Thun
;
Dale Walz
;
Radu Dumitru
;
Anthony Wilson
;
Teresa Farris
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Hafnium;
38.
Compendium of Single Event Effects Test Results for Commercial-Off-The-Shelf and Standard Electronics for Low Earth Orbit and Deep Space Applications
机译:
适用于低地球轨道和深空应用的商用和标准电子产品的单事件效应测试结果简编
作者:
Brandon D. Reddell
;
Charles R. Bailey
;
Patrick M. ONeill
;
Kyson V. Nguyen
;
Scott A. Wheeler
;
Razvan Gaza
;
Chirag Patel
;
Jaime Cooper
;
Theodore Kalb
;
Elden Beach
;
Larry Mason
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Testing;
Ions;
NASA;
Protons;
MOSFET;
Low earth orbit satellites;
Silicon;
39.
Heavy Ion and Proton Induced Radiation Effects on Differential Bus Transceiver Microcircuits
机译:
重离子和质子诱导的差分总线收发器微电路辐射效应
作者:
R. Koga
;
S. Davis
;
J. George
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Transceivers;
Ions;
Oscilloscopes;
Protons;
Ports (Computers);
Sensitivity;
Transient analysis;
40.
Proton and Heavy Ion Testing of the Microsemi Igloo2 FPGA
机译:
Microsemi Igloo2 FPGA的质子和重离子测试
作者:
S. C. Davis
;
R. Koga
;
J. S. George
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Testing;
Clocks;
Protons;
Ions;
Field programmable gate arrays;
Flip-flops;
Pins;
41.
Representativeness of 60Co Testing for EEE Components to be Flown in JUICE
机译:
60 sup> Co测试在JUICE中飞行的代表性
作者:
M. Pinto
;
P. Assis
;
M. Ferreira
;
P. Gonçalves
;
M. Muschitiello
;
C. Poivey
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Indexes;
Electron beams;
42.
SEE Test Results for the Snapdragon 820
机译:
查看Snapdragon 820的测试结果
作者:
Steven M. Guertin
;
Matthew Cui
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Testing;
Androids;
Humanoid robots;
Ions;
Protons;
Neutrons;
Software;
43.
Single Event Effect and Total Ionizing Dose Assessment of Commercial Optical Coherent DSP ASIC
机译:
商用光学相干DSP ASIC的单事件效应和总电离剂量评估
作者:
Raichelle Aniceto
;
Slaven Moro
;
Randall Milanowski
;
Christopher Isabelle
;
Norman Hall
;
Bert Vermeire
;
Kerri Cahoy
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Protons;
Testing;
Optical attenuators;
Energy states;
Particle beams;
Adaptive optics;
Optical fibers;
44.
Radiation Evaluation of the CDCLVP111-SP Low Voltage 1:10 LVPECL Clock Distributor
机译:
CDCLVP111-SP低压1:10 LVPECL时钟分配器的辐射评估
作者:
J. Cruz-Colon
;
V. Narayanan
;
W. N. Vonbergen
;
R. G. Roybal
;
R. C. Baumann
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Clocks;
Testing;
Ions;
Performance evaluation;
Telephone sets;
Temperature sensors;
Multiplexing;
45.
Research of Noncontact Laser-Based Approach for DUT Heating during Single-Event Effect Tests with Heavy Ion Exposure
机译:
重离子暴露单事件效应测试中基于非接触激光的DUT加热方法研究
作者:
Eugeny V. Mitin
;
Ekaterina N. Nekrasova
;
Vasily S. Anashin
;
Aleksandr E. Koziukov
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Heating systems;
Temperature;
Temperature sensors;
Heat transfer;
Semiconductor lasers;
Performance evaluation;
Temperature dependence;
46.
Heavy Ion Latch-up Test on dsPIC Microcontroller to be used in ExoMars 2020 Mission
机译:
dsPIC微控制器上的重离子闩锁测试将用于ExoMars 2020任务
作者:
P. Manzano
;
M. Álvarez
;
S. Sampedro
;
M. J. Rivas
;
I. Traseira
;
J. Manzano
;
J. R. Mingo
;
A. Martín-Ortega
;
N. Andrés
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Ions;
Microcontrollers;
Protons;
Estimation;
Performance evaluation;
Measurement by laser beam;
Mars;
47.
Ionizing Radiation Response of the 4558 Analog Processor / Analog-to-Digital Converter
机译:
4558模拟处理器/模数转换器的电离辐射响应
作者:
Steven C. Witczak
;
Jeremiah J. Horner
;
David C. Harms
;
Todd S. Mason
;
Kristin E. Marino
;
Glen E. Macejik
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Annealing;
Radiation effects;
Performance evaluation;
Measurement errors;
Measurement uncertainty;
Power supplies;
Ionizing radiation;
48.
64 MeV Proton Single-Event Upset Characterization of Customer Memory Interface Design on Xilinx XCKU040 FPGA
机译:
Xilinx XCKU040 FPGA上客户存储器接口设计的64 MeV质子单事件翻转表征
作者:
Yanran P. Chen
;
Pierre Maillard
;
Michael Hart
;
Jeff Barton
;
John Schmitz
;
Patrick Kyu
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Protons;
Estimation;
Single event upsets;
Neutrons;
Testing;
IP networks;
49.
Radiation Hardness Evaluation of the YHFT-DV Digital Signal Processor
机译:
YHFT-DV数字信号处理器的辐射硬度评估
作者:
Yaqing Chi
;
Bin Liang
;
Yongjie Sun
;
Yang Guo
;
Shuming Chen
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Random access memory;
Field programmable gate arrays;
Ports (Computers);
Pins;
Single event upsets;
50.
Configuration Tests of RHBD Library with DICE, TAG4, dual rail, TMR and New 10T Voting Latch using UMC 65 and XFAB 180 nm
机译:
使用UMC 65和XFAB 180 nm对带有DICE,TAG4,双轨,TMR和新型10T投票锁的RHBD库进行配置测试
作者:
Robert L. Shuler
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Latches;
Libraries;
Tunneling magnetoresistance;
Layout;
Clocks;
Logic gates;
Delays;
51.
Neutron, 64 MeV Proton Alpha Single-event Characterization of Xilinx 16nm FinFET Zynq® UltraScale+™ MPSoC
机译:
Xilinx 16nm FinFETZynq®UltraScale +™MPSoC的中子,64 MeV质子和Alpha单事件表征
作者:
Pierre Maillard
;
Michael Hart
;
Jeff Barton
;
Jue Arver
;
Christina Smith
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Neutrons;
Protons;
FinFETs;
Testing;
Field programmable gate arrays;
Particle beams;
Random access memory;
52.
Radiation Effects Characterization of TI OPA4277-SP High Precision Operational Amplifier
机译:
TI OPA4277-SP高精度运算放大器的辐射效应表征
作者:
V. Narayanan
;
S. Narayanan
;
J. C. Colon
;
Y. Christian
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Transient analysis;
Rails;
Operational amplifiers;
Radiation effects;
Single event transients;
Pins;
53.
Recent Cocktail Beam Developments at the 88-Inch Cyclotron for SEE Testing
机译:
88英寸回旋加速器用于SEE测试的最新鸡尾酒束开发
作者:
Janilee Y. Benitez
;
Alexander Donoghue
;
Michael B. Johnson
;
Wang Lu
;
Brien Ninemire
;
Larry Phair
;
Damon S. Todd
;
Daniel Xie
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Cyclotrons;
Ion sources;
Venus;
Testing;
Ion beams;
Gold;
54.
Proton Testing Results for Kaman KD-5100 Differential Inductive Position Measuring Systems
机译:
Kaman KD-5100差分感应位置测量系统的质子测试结果
作者:
Bart H. McGuyer
;
Randall J. Milanowski
;
Slaven Moro
;
Norman Hall
;
Bert Vermeire
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Calibration;
Monitoring;
Radiation effects;
Protons;
Sensors;
Annealing;
Measurement by laser beam;
55.
Single Event Transient and Functional Interrupt in Readout Integrated Circuit of Infrared Image Sensors at Low Temperatures
机译:
低温下红外图像传感器读出集成电路中的单事件瞬态和功能中断
作者:
L. Artola
;
A. Al Youssef
;
S. Ducret
;
R. Buiron
;
S. Parola
;
G. Hubert
;
C. Poivey
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Ions;
Temperature measurement;
Radiation effects;
Temperature sensors;
Sensitivity;
Space vehicles;
Multiplexing;
56.
Total Ionizing Dose Effects in Commercial Floating-Gate-Alternative Non-Volatile Memories
机译:
商业浮栅替代非易失性存储器中的总电离剂量效应
作者:
Matthew J. Gadlage
;
Matthew J. Kay
;
David I. Bruce
;
Austin H. Roach
;
Adam R. Duncan
;
Aaron M. Williams
;
J. David Ingalls
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Hafnium;
CMOS technology;
Indexes;
Total ionizing dose;
57.
Single-Event Latchup Measurements on COTS Electronic Devices for Use in ISS Payloads
机译:
用于ISS有效载荷的COTS电子设备上的单事件闩锁测量
作者:
Farokh Irom
;
Gregory R. Allen
;
Sergeh Vartanian
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Temperature measurement;
Ions;
Heating systems;
Power supplies;
Voltage control;
Ion beams;
Transceivers;
58.
Single Event Effects Characterization of BAE Systems RADNET™ 1848-PS RapidIO® Packet Switch
机译:
BAE系统RADNET™1848-PSRapidIO®分组交换机的单事件效果表征
作者:
Andrew T. Kelly
;
John C. Rodgers
;
Stephen Johnson
;
Ronald D. Brown
;
Aaron Adamson
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Ports (Computers);
Probes;
Software;
Ions;
Testing;
Protons;
Switches;
59.
Compendium of Radiation-Induced Effects for Candidate Particle Accelerator Electronics
机译:
候选粒子加速器电子的辐射诱导效应简编
作者:
S. Danzeca
;
P. Peronnard
;
G. Foucard
;
G. Tsiligiannis
;
R. Secondo
;
R. Ferraro
;
C. G. McAllister
;
T. Borel
;
M. Brugger
;
A. Masi
;
S. Gilardoni
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Temperature sensors;
Particle beams;
MOSFET;
Registers;
Protons;
60.
Destructive Single-Event Effects Testing of the Intersil ISL70023SEH and ISL70024SEH Gallium Nitride power transistors
机译:
Intersil ISL70023SEH和ISL70024SEH氮化镓功率晶体管的破坏性单事件效果测试
作者:
N. W. van Vonno
;
O. Mansilla
;
J. S. Gill
;
W. H. Newman
;
L. G. Pearce
;
E. J. Thomson
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Radiation effects;
Testing;
Gallium nitride;
Performance evaluation;
Ions;
Logic gates;
Temperature measurement;
61.
Displacement Damage Testing of the Intersil ISL70023SEH and ISL70024SEH Gallium Nitride Power Transistors
机译:
Intersil ISL70023SEH和ISL70024SEH氮化镓功率晶体管的位移损坏测试
作者:
N. W. van Vonno
;
O. Mansilla
;
J. S. Gill
;
W. H. Newman
;
L. G. Pearce
;
E. J. Thomson
会议名称:
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》
|
2017年
关键词:
Neutrons;
Radiation effects;
Leakage currents;
Testing;
Gallium nitride;
Logic gates;
Performance evaluation;
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