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Offset of contact opening for copper pillars in flip chip packages

机译:倒装芯片封装中铜柱的触点开口偏移

摘要

An integrated circuit die has a dielectric layer positioned over all the contact pads on the integrated circuit die. Openings are provided in the dielectric layer over each of the contact pads of the integrated circuit die in order to permit electrical coupling to be made between the integrated circuit and circuit boards outside of the die. For those contact pads located in the central region of the die, the opening in the dielectric layer is in a central region of the contact pad. For those contact pads located in a peripheral region of the die, spaced adjacent the perimeter die, the opening in the dielectric layer is offset from the center of the contact pad and is positioned closer to the central region of the die than the center of the contact pad is to the central region of the die.
机译:集成电路管芯具有位于该集成电路管芯上的所有接触垫上方的介电层。在集成电路管芯的每个接触垫上方的介电层中提供开口,以便允许在集成电路与管芯外部的电路板之间进行电耦合。对于位于裸片的中心区域中的那些接触垫,电介质层中的开口在接触垫的中心区域中。对于位于裸片的外围区域中,与周边裸片相邻间隔的那些接触垫,电介质层中的开口偏离接触垫的中心,并且定位成比裸片的中心更靠近裸片的中心区域。接触垫位于芯片的中心区域。

著录项

  • 公开/公告号US8772943B2

    专利类型

  • 公开/公告日2014-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 XUEREN ZHANG;KIM-YONG GOH;

    申请/专利号US201113313397

  • 发明设计人 XUEREN ZHANG;KIM-YONG GOH;

    申请日2011-12-07

  • 分类号H01L29/72;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:00:46

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