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GaN-BASED FIELD-EFFECT TRANSISTOR AND NITRIDE SEMICONDUCTOR DEVICE

机译:GaN基场效应晶体管和氮化物半导体器件

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a GaN-based field-effect transistor with reduced interface leakage at an element isolation portion.SOLUTION: A GaN-based field-effect transistor includes: a GaN-based stack (5) including a GaN-based channel layer (2) and a GaN-based barrier layer (3), and having hetero junction; an isolation region (30) for isolating an active region (10) of the GaN-based stack (5); and an electrode (31) for element isolation provided on the isolation region (30) and surrounding the active region (10).
机译:解决的问题:提供一种在元件隔离部分具有减小的界面泄漏的基于GaN的场效应晶体管。解决方案:基于GaN的场效应晶体管包括:包括GaN基的GaN基叠层(5)。沟道层(2)和GaN基势垒层(3),并具有异质结;隔离区(30),用于隔离GaN基堆叠(5)的有源区(10);设置在隔离区域(30)上并围绕有源区域(10)的用于元件隔离的电极(31)。

著录项

  • 公开/公告号JP2015090966A

    专利类型

  • 公开/公告日2015-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SHARP CORP;

    申请/专利号JP20130231320

  • 发明设计人 NAGAHISA TETSUZO;TODA SHINICHI;

    申请日2013-11-07

  • 分类号H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812;H01L27/095;H01L21/76;H01L21/336;H01L29/78;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 15:35:12

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