首页> 外国专利> WAFER LEVEL ENCAPSULATION STRUCTURE, FABRICATION METHODS AND VIABLE ENGINEERED SUBSTRATE CONCEPT

WAFER LEVEL ENCAPSULATION STRUCTURE, FABRICATION METHODS AND VIABLE ENGINEERED SUBSTRATE CONCEPT

机译:晶圆级封装结构,制造方法和可行的基板概念

摘要

The present invention concerns a hermetic silicon wafer structure comprising a patterned SOI MEMS wafer, a single crystal Si cap attached to the SOI MEMS wafer,and a hermetic silicon-oxide sealing ring in between the said MEMS wafer and the single crystal Si cap. The invention also concerns a silicon wafer structure comprising a silicon-on-insulator wafer embodying MEMS devices,and a single crystal silicon cap attached to the silicon-on- insulator wafer by means of a silicon-oxide sealing ring such that the single crystal silicon cap, the silicon-oxide sealing ring and the silicon-on-insulator wafer define a hermetic cavity around the MEMS devices. Further, the invention concerns methods of fabricating a wafer and a method of manufacturing a Viable Engineered Substrate comprising a patterned SOI MEMS wafer and a single crystal Si cap.
机译:本发明涉及一种气密性硅晶片结构,该结构包括图案化的SOI MEMS晶片,附接到该SOI MEMS晶片的单晶硅帽以及在所述MEMS晶片和单晶硅帽之间的气密性氧化硅密封环。本发明还涉及一种硅晶片结构,该硅晶片结构包括:体现MEMS装置的绝缘体上硅晶片;以及借助于氧化硅密封环附接到绝缘体上硅晶片的单晶硅盖,使得单晶硅帽,氧化硅密封环和绝缘体上硅晶片在MEMS器件周围定义了一个密封腔。此外,本发明涉及制造晶片的方法和制造可行的工程衬底的方法,该衬底包括图案化的SOI MEMS晶片和单晶硅盖。

著录项

  • 公开/公告号WO2015036657A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-03-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT;

    申请/专利号WO2014FI50699

  • 发明设计人 DEKKER JAMES;GUO BIN;GAO FENG;

    申请日2014-09-12

  • 分类号B81C1;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 15:07:45

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号