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METHOD OF FABRICATION OF AI/GE BONDING IN A WAFER PACKAGING ENVIRONMENT

机译:晶圆包装环境中AI / GE键合的制备方法

摘要

A method for bonding a first substrate wafer and a second substrate wafer (102, 104) by creating an aluminum/germanium bond, an aluminum layer disposed on the first substrate wafer (104), a germanium layer disposed on the second substrate wafer (102), the method comprising: placing the first substrate wafer (104) in a first chuck; placing the second substrate wafer (102) in a second chuck; aligning the first substrate wafer and the second substrate wafer; and forming a eutectic bond between the germanium layer and the aluminum layer, wherein the eutectic bond is formed by applying a force across the first chuck and the second chuck, and ramping temperature of at least one of the first chuck or the second chuck over a eutectic temperature of the aluminum/germanium bond.
机译:一种通过产生铝/锗键来粘合第一衬底晶片和第二衬底晶片(102、104)的方法,设置在第一衬底晶片(104)上的铝层,设置在第二衬底晶片(102)上的锗层),该方法包括:将第一衬底晶片(104)放置在第一卡盘中;将第二基板晶片(102)放置在第二卡盘中;对准第一基板晶片和第二基板晶片;在所述锗层和所述铝层之间形成共晶键,其中,所述共晶键是通过在所述第一卡盘和所述第二卡盘上施加力,并使所述第一卡盘或所述第二卡盘中的至少一个的温度缓缓上升而形成的。铝/锗键的共晶温度。

著录项

  • 公开/公告号EP3208231A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-08-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INVENSENSE INC.;

    申请/专利号EP20170161696

  • 发明设计人 NASIRI STEVEN;FLANNERY ANTHONY;

    申请日2006-03-09

  • 分类号B81C1;B23K20/02;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 14:04:04

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