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METHOD OF FORMING STACKED TRENCH CONTACTS AND STRUCTURES FORMED THEREBY

机译:形成叠层沟槽接触的方法及由此形成的结构

摘要

Methods and associated structures of forming a microelectronic device are described. Those methods may include forming a structure comprising a first contact metal disposed on a source/drain contact of a substrate, and a second contact metal disposed on a top surface of the first contact metal, wherein the second contact metal is disposed within an ILD disposed on a top surface of a metal gate disposed on the substrate.
机译:描述了形成微电子器件的方法和相关结构。这些方法可以包括形成结构,该结构包括布置在衬底的源/漏触点上的第一接触金属和布置在第一接触金属的顶表面上的第二接触金属,其中第二接触金属布置在ILD内设置在衬底上的金属栅极的顶表面上的衬底上。

著录项

  • 公开/公告号US2018315710A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-11-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTEL CORPORATION;

    申请/专利号US201815925151

  • 发明设计人 BERNHARD SELL;OLEG GOLONZKA;

    申请日2018-03-19

  • 分类号H01L23/535;H01L23/532;H01L21/768;H01L21/8234;H01L29/08;H01L23/528;H01L27/088;H01L21/28;H01L29/417;H01L23/485;H01L29/78;H01L29/66;H01L29/49;H01L23/522;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:58:11

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