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METHOD FOR THE ESTIMATION OF KEROGEN MATURITY BY X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY

机译：X射线光电子能谱估算出核素成熟度的方法

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Method to estimate the kerogen maturity of a rock containing organic material by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). Significant changes in the XPS spectrum due to changes in C hybridization, particularly sp²hybridization, allow to quantify kerogen maturity by comparison with an already known sample.

机译：通过X射线光电子能谱（XPS）估算包含有机材料的岩石的干酪根成熟度的方法。由于C杂交（特别是sp ^{2 杂交）的变化，XPS光谱的显着变化允许通过与已知样品进行比较来定量干酪根成熟度。}

著录项

公开/公告号US2018284041A1

专利类型
公开/公告日2018-10-04

原文格式PDF
申请/专利权人 YPF TECNOLOGIA S.A.;
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申请/专利号US201815926641
发明设计人 ALEJANDRA CALVO;ANTONELA CANNEVA;IVAN SANTIAGO GIORDANA;INES LIDIA LABAYEN;GEORGINA ERRA;
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申请日2018-03-20
分类号G01N23/2273;G01N23/2202;
国家 US
入库时间 2022-08-21 12:57:08

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