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P-type diamond gate-GaN heterojunction FET structure

机译:P型金刚石栅极-GaN异质结FET结构

摘要

A FET device includes a substrate having top and bottom surfaces, a channel layer on the top surface of the substrate; the channel layer having top and bottom surfaces, at least two recesses extending into the channel layer from the top surface of the channel layer and forming a channel region between the at least two recesses, a gate electrode disposed in each of the at least two recesses, and a drain region and a source region formed in the channel layer on opposite sides of said channel region.
机译:场效应晶体管器件包括:具有顶表面和底表面的衬底;在所述衬底的顶表面上的沟道层;以及在所述衬底的顶表面上的沟道层。所述沟道层具有顶表面和底表面,至少两个凹槽从所述沟道层的顶表面延伸到所述沟道层中并在所述至少两个凹槽之间形成沟道区域,栅电极设置在所述至少两个凹槽的每个中漏极区和源极区形成在所述沟道区的相对侧上的沟道层中。

著录项

  • 公开/公告号US9985121B1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-05-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HRL LABORATORIES LLC;

    申请/专利号US201615096259

  • 发明设计人 KENNETH R. ELLIOTT;

    申请日2016-04-11

  • 分类号H01L29/778;H01L29/20;H01L29/205;H01L29/15;H01L29/43;H01L29/66;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:56:39

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