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FINFET FIN FIELD EFFECT TRANSISTOR FINFET DEVICE STRUCTURE AND METHOD FOR FORMING THE SAME

机译:鳍式场效应晶体管场效应晶体管鳍式场效应晶体管器件结构及其形成方法

摘要

A semiconductor device structure and a forming method thereof are provided. A fin field effect transistor (FinFET) device structure includes: a fin structure formed over a substrate; and a gate structure traversing over the fin structure. The gate structure includes a gate electrode layer which includes: an upper portion above the fin structure; and a lower portion below the fin structure. The upper portion has an upper end surface having a first width, and the lower portion has a lower end surface having a second width, wherein the first width is wider than the second width.
机译:提供一种半导体器件结构及其形成方法。鳍式场效应晶体管(FinFET)器件结构包括:鳍结构,形成在衬底上方;栅结构遍及鳍结构。栅极结构包括栅电极层,该栅电极层包括:在鳍结构上方的上部;以及在栅结构上方的上部。在鳍状结构的下方。上部具有具有第一宽度的上端面,而下部具有具有第二宽度的下端面,其中第一宽度比第二宽度宽。

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