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ENHANCEMENT-MODE/DEPLETION-MODE FIELD-EFFECT TRANSISTOR GAN TECHNOLOGY

机译:增强模式/耗尽模式场效应晶体管GAN技术

摘要

An integrated circuit die having a substrate with a first device stack disposed upon the substrate and a second device stack spaced from the first device stack and disposed upon the substrate is disclosed. The second device stack includes a first portion of a channel layer and a threshold voltage shift layer disposed between the first portion of the channel layer and the substrate, wherein the threshold voltage shift layer is configured to set a threshold voltage that is a minimum device control voltage required to create a conducting path within the first portion of the channel layer.
机译:公开了一种集成电路裸片,其具有衬底,该衬底具有布置在衬底上的第一器件堆叠以及与第一器件堆叠间隔开并布置在衬底上的第二器件堆叠。第二器件堆叠包括沟道层的第一部分和设置在沟道层的第一部分和衬底之间的阈值电压移位层,其中阈值电压移位层被配置为设置作为最小器件控制的阈值电压。在沟道层的第一部分内产生导电路径所需的电压。

著录项

  • 公开/公告号US2018358357A1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-12-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 QORVO US INC.;

    申请/专利号US201816001996

  • 发明设计人 JOSE JIMENEZ;JINQIAO XIE;

    申请日2018-06-07

  • 分类号H01L27/085;H01L29/10;H01L29/36;H01L29/20;H01L29/205;H01L21/306;H01L21/8252;H01L21/762;H01L29/08;H01L21/02;H01L29/06;H01L29/778;H01L29/66;H01L29/417;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:11:14

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