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CMOS DEVICE INCLUDING PMOS METAL GATE WITH LOW THRESHOLD VOLTAGE

机译:包括低阈值电压的PMOS金属门的CMOS器件

摘要

A PMOS gate structure will be described. The PMOS gate structure includes a trench, a high-k metal layer on a bottom surface and sidewalls of the trench, and a fluorine-free tungsten layer on the surface of the high-k metal. The PMOS gate structure also includes a metal layer in a space in the n-type work function metal.
机译:将描述PMOS栅极结构。 PMOS栅极结构包括沟槽,在沟槽的底表面和侧壁上的高k金属层以及在高k金属的表面上的无氟钨层。 PMOS栅极结构还包括在n型功函数金属中的空间中的金属层。

著录项

  • 公开/公告号DE102019107531A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-10-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTEL CORPORATION;

    申请/专利号DE201910107531

  • 发明设计人 DAN LAVRIC;YING PANG;

    申请日2019-03-25

  • 分类号H01L27/092;H01L21/8238;H01L29/423;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 11:44:24

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