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Strained and unstrained semiconductor device features formed on the same substrate

机译:在同一衬底上形成的应变和非应变半导体器件特征

摘要

Embodiments of the invention are directed to a configuration of semiconductor devices having a substrate and a first feature formed on the substrate, wherein the first feature includes a first preserve region having compressive strain that extends throughout the first preserve region, and wherein the first feature further includes a cut region comprising a dielectric.
机译:本发明的实施例针对具有衬底和在衬底上形成的第一特征的半导体器件的配置,其中第一特征包括具有延伸到整个第一保留区域的压缩应变的第一保留区域,并且其中第一特征还包括包括包括电介质的切割区域。

著录项

  • 公开/公告号US10644108B2

    专利类型

  • 公开/公告日2020-05-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION;

    申请/专利号US201715584159

  • 发明设计人 KANGGUO CHENG;JUNTAO LI;PENG XU;

    申请日2017-05-02

  • 分类号H01L27/12;H01L29/78;H01L29/417;H01L29/66;H01L29/737;H01L29/10;H01L21/8238;H01L27/092;H01L29/16;H01L29/161;H01L29/06;H01L21/8234;H01L21/84;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 11:26:29

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