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基于原子层沉积隔离层的铁电动态随机存储器及制备方法

摘要

本发明涉及基于原子层沉积隔离层的铁电动态随机存储器及其制备方法,属于微电子新材料与器件技术领域,该器件的区别特征为隔离层介质为:HfO2、Hf-Al-O、TiO2、Al2O3中的任意一种;铁电薄膜层为BXT或BXFY中的任意一种:其中,X为掺杂的稀土元素,Y为掺杂的过渡金属元素。该方法包括:对硅衬底进行清洗及氧化:光刻形成源漏区和衬底接触区后生长氧化层:再光刻形成栅区后生长隔离层介质薄膜和铁电薄膜;在铁电薄膜上溅射电极金属层;再光刻和刻蚀形成栅电极、接触孔;源极、漏极以及衬底接触金属层及电极金属层;最后合金化处理。本发明可获得大面积、均匀致密的、性能良好的存储介质薄膜和隔离层材料,用其制备的FEDRAM器件具有更小的漏电,更高的保持特性。

著录项

  • 公开/公告号CN101872769B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201010202577.2

  • 申请日2010-06-11

  • 分类号H01L27/115(20060101);H01L21/02(20060101);H01L21/31(20060101);G11C11/22(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人廖元秋

  • 地址 100085 北京市海淀区清华园1号

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-31

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 27/115 授权公告日:20120523 终止日期:20180611 申请日:20100611

    专利权的终止

  • 2012-05-23

    授权

    授权

  • 2012-05-23

    授权

    授权

  • 2010-12-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/115 申请日:20100611

    实质审查的生效

  • 2010-12-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/115 申请日:20100611

    实质审查的生效

  • 2010-10-27

    公开

    公开

  • 2010-10-27

    公开

    公开

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