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用于化学机械抛光的抛光垫及应用其的化学机械抛光方法

摘要

提供一种对半导体装置的两相邻结构进行化学机械抛光的方法。该化学机械抛光方法包括:(a)提供一种半导体装置,其包含在其表面内形成的凹穴、在该表面上形成的第一材料层、以及填满该凹穴并在第一材料层上形成的第二材料层;以及(b)以抛光垫及基本上不含抑制剂的抛光浆料基本上抛光第一及第二材料层,其中该抛光垫包含第二材料层的腐蚀抑制剂。

著录项

  • 公开/公告号CN101352844B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-04-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 旺宏电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200710199329.5

  • 发明设计人 陈俊甫;洪永泰;苏金达;陈光钊;

    申请日2007-12-17

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人宋莉

  • 地址 中国台湾新竹科学工业园区

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-04-25

    授权

    授权

  • 2009-03-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-28

    公开

    公开

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