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掩模版图校正方法、掩模版图和掩模版制造方法

摘要

一种掩模版图校正方法、掩模版图和掩模版制造方法,其中,所述掩模版图校正方法,包括:对掩模版图进行检查,选出其中间距小于光刻设备分辨率的至少一对掩模版图案对;从每一对掩模版图案对中选出一个掩模版图案,根据旁瓣效应,形成与所述选出的掩模版图案对应的至少两个辅助图案,以替换所述选出的掩模版图案;其中,所述辅助图案的尺寸小于光刻设备分辨率尺寸,且所述辅助图案的中心位于以所述掩模版图案中心为圆心、旁瓣距离为半径的圆周上。本发明通过构建辅助图形,使得仅采用一次曝光就能够实现其关键尺寸小于光刻设备分辨率的图形的转移,节省了人力和时间,提高了生产效率,节约了成本。

著录项

  • 公开/公告号CN101989040B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-03-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200910056019.7

  • 发明设计人 朴世镇;

    申请日2009-08-06

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人李丽

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-03-07

    授权

    授权

  • 2011-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 1/14 申请日:20090806

    实质审查的生效

  • 2011-03-23

    公开

    公开

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