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基于硅衬底上的全外延电阻转变多层薄膜、方法及应用

摘要

本发明涉及一种新型存储器用硅基全外延多层薄膜、方法及应用。本发明的目的是通过在硅衬底上依次外延生长TiN,MgO或SrTiO

著录项

  • 公开/公告号CN101252170B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海硅酸盐研究所;

    申请/专利号CN200810034352.3

  • 发明设计人 于伟东;李效民;陈同来;吴峰;

    申请日2008-03-07

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200050 上海市长宁区定西路1295号

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-04-19

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 45/00 授权公告日:20110601 终止日期:20160307 申请日:20080307

    专利权的终止

  • 2011-06-01

    授权

    授权

  • 2009-04-29

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-08-27

    公开

    公开

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