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具有双超浅隔离结构的多点式SOI晶体管

摘要

本发明揭露一种具有双超浅隔离结构的多点式SOI晶体管,其包含至少邻接的二晶体管单元,各晶体管单元水平设于SOI基板的硅层中,且相邻晶体管单元互相对称设置,每一晶体管单元包含一第一、第二超浅沟槽结构、一第一、第二型掺杂区,一介于二超浅沟槽结构之间的第二型轻掺杂区。第一、第二型掺杂区不但分别与第一、第二超浅沟槽结构邻接,并与第二型轻掺杂区邻接,另外在第二型轻掺杂区的表面形成一第一型射极结构。本发明能使与基极连接的基极连接导线的内阻变小,以减少整个器件的功率消耗。

著录项

  • 公开/公告号CN101697352B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN200910198057.6

  • 发明设计人 彭树根;高明辉;周建华;

    申请日2009-10-30

  • 分类号H01L27/12(20060101);H01L29/73(20060101);H01L21/762(20060101);

  • 代理机构31219 上海光华专利事务所;

  • 代理人余明伟

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-06-11

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 27/12 变更前: 变更后: 登记生效日:20140515 申请日:20091030

    专利申请权、专利权的转移

  • 2011-06-01

    授权

    授权

  • 2010-06-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/12 申请日:20091030

    实质审查的生效

  • 2010-04-21

    公开

    公开

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