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用于二次离子以及直接和间接二次电子的粒子检测器

摘要

描述了一种多用途高效带电粒子检测器,其通过切换偏置电压测量二次离子、或者来自样品的二次电子(SE)、或者源自背散射电子的二次电子(SE3)。检测器结构的基本版本和两个分解版本使其能够用于下列检测组合:1.主要版本用于一起测量二次离子、或者来自样品的二次电子、或者由于碰撞除样品以外的部分的背散射电子引起的二次电子,或者不测量来自样品的二次电子;2.测量二次离子或者来自样品的二次电子(不测量SE3);3.测量来自样品的二次电子和/或由碰撞除样品以外的物体的背散射电子导致的二次电子(不测量离子)。

著录项

  • 公开/公告号CN101194337B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 EL-MUL科技有限公司;

    申请/专利号CN200680016261.6

  • 申请日2006-05-11

  • 分类号

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人郑立

  • 地址 以色列亚夫内

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-04-06

    授权

    授权

  • 2008-07-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-04

    公开

    公开

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