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离子注入制备高性能碲镉汞p-n结的方法

摘要

本发明涉及离子注入制备高性能碲镉汞p-n结的方法。该方法采用同一块碲镉汞薄膜为基底;制作多块掩膜板;并蒸镀ZnS薄膜作为离子注入的阻挡层;在阻挡层上光刻出相应的离子注入区进行注入;再完成p-n结的成结工艺。其中,离子注入的阻挡层是通过多次叠加蒸镀获得的不同厚度ZnS薄膜阻挡层;离子注入的剂量为优化后的同一离子剂量、同一注入能量值。本发明在同一基底材料上获得叠加蒸镀具有不同厚度阻挡层的系列试验单元,一次性地以优化后的离子注入剂量对光刻出注入区进行离子注入的工艺改进,制备高性能碲镉汞p-n结,为光伏型红外探测器提供更方便快捷的优化工艺参数试验研究,试验成本低、且节省时间和精力;该方法同样可推广应用于对其它基底材料体系的离子注入阻挡层厚度的优化研究。

著录项

  • 公开/公告号CN101425552B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200810194786.X

  • 申请日2008-10-20

  • 分类号H01L31/18(20060101);H01L21/04(20060101);H01L21/426(20060101);

  • 代理机构32223 淮安市科文知识产权事务所;

  • 代理人陈静巧

  • 地址 223001 江苏省淮安市清河区交通路71号

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-12-19

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 31/18 授权公告日:20100811 终止日期:20111020 申请日:20081020

    专利权的终止

  • 2012-12-19

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 31/18 授权公告日:20100811 终止日期:20111020 申请日:20081020

    专利权的终止

  • 2012-12-19

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 31/18 授权公告日:20100811 终止日期:20111020 申请日:20081020

    专利权的终止

  • 2010-08-11

    授权

    授权

  • 2010-08-11

    授权

    授权

  • 2010-08-11

    授权

    授权

  • 2010-02-17

    专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移) 变更前: 变更后:

    专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)

  • 2010-02-17

    专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移) 变更前: 变更后: 登记生效日:20100115 申请日:20081020

    专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)

  • 2010-02-17

    专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移) 变更前: 变更后: 登记生效日:20100115 申请日:20081020

    专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)

  • 2009-07-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-07-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-07-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-05-06

    公开

    公开

  • 2009-05-06

    公开

    公开

  • 2009-05-06

    公开

    公开

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