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采用标准CMOS逻辑工艺实现高耐压的整流器

摘要

一种采用标准CMOS逻辑工艺实现高耐压的整流器,其特征是由电容(C1)-电容(C4)、NMOS晶体管(T1)-NMOS晶体管(T4)、电阻(RL)等构成;本发明通过在整流器所使用的晶体管的栅极上串联电容或类电容结构的器件来分压加至在晶体管的栅极上的电压,用于集成基于采用标准CMOS逻辑工艺实现的不挥发型的存储器的RFID电子标签/智能卡芯片的实现。采用本发明整流器,有助于集成基于采用标准CMOS逻辑工艺实现的不挥发型的存储器,并有助于降低RFID电子标签/智能卡芯片的制造和工艺成本。

著录项

  • 公开/公告号CN100553098C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-10-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川凯路威电子有限公司;

    申请/专利号CN200610021583.1

  • 发明设计人 王兼明;毛军华;巫向东;

    申请日2006-08-11

  • 分类号H02M7/217(20060101);H02M7/219(20060101);H01L27/02(20060101);H01L27/04(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 621000 四川省绵阳市高新区绵兴东路96号1楼

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-06

    专利权的转移 IPC(主分类):H02M 7/217 登记生效日:20191118 变更前: 变更后: 申请日:20060811

    专利申请权、专利权的转移

  • 2009-10-21

    授权

    授权

  • 2009-10-21

    授权

    授权

  • 2007-03-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-03-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-01-31

    公开

    公开

  • 2007-01-31

    公开

    公开

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