首页> 中国专利> 在宽带隙材料中制作高功率器件的方法

在宽带隙材料中制作高功率器件的方法

摘要

本申请公开了一种在宽带隙半导体材料中制作高功率、高频率器件的方法,在工作期间具有降低的结温度、更高的功率密度和在额定功率密度下具有提高的可靠性,以及所得到的半导体结构和器件。该方法包括向碳化硅晶片附加一层金刚石以提高所得到的复合晶片的热传导率,其后减小该复合晶片的碳化硅部分的厚度,同时保持足够厚的的碳化硅以支撑其上的外延生长,准备该复合晶片的碳化硅表面用于其上的外延生长,以及向该晶片的所准备的碳化硅面附加III族氮化物异质结构。

著录项

  • 公开/公告号CN100530544C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-08-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 克里公司;

    申请/专利号CN200580002968.7

  • 发明设计人 亚当·W·萨克斯勒;

    申请日2005-01-14

  • 分类号H01L21/20(20060101);H01L29/778(20060101);H01S5/00(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人王永刚

  • 地址 美国北卡罗莱纳

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-08-19

    授权

    授权

  • 2007-04-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-02-07

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号