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采用硅-锗和硅-碳合金的异质结场效应晶体管

摘要

利用硅-锗缓冲层和硅-碳沟道层结构制造的诸如异质结场效应晶体管的半导体器件。本发明提供了一种通过降低其上形成有应变硅沟道层的SiGe驰豫缓冲层之中的锗组分从而减少穿透缺陷密度的方法,该方法通过形成硅-碳合金的应变硅沟道层来实现,该碳-硅合金包含例如替代式地结合入合金的Si晶格中的、小于约1.5原子百分比的碳。

著录项

  • 公开/公告号CN100511720C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国际整流器公司;

    申请/专利号CN03821362.1

  • 申请日2003-07-01

  • 分类号H01L31/0328(20060101);

  • 代理机构11204 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人葛强;方挺

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-09-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 31/0328 授权公告日:20090708 终止日期:20110701 申请日:20030701

    专利权的终止

  • 2009-07-08

    授权

    授权

  • 2005-12-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-10-26

    公开

    公开

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