工业制造中传感器的筛选方法、装置、设备及介质

摘要

本发明公开了工业制造中传感器的筛选方法、装置、终端设备及存储介质，通过设备针对传感器信号进行预处理，得到经过预处理后的传感器信号，其中，所述预处理用于降低传感器信号在筛选过程中受到错误判断的概率；基于所述经过预处理后的传感器信号建立候选传感器集合；根据所述经过预处理后的传感器信号与故障检测及分类之间的关联性，在所述候选传感器集合内筛选出目标传感器用于构建故障检测及分类模型。如此，本发明提供的工业制造中传感器的筛选方法能够提高对有助于FDC模型开发的传感器进行定位的效率，同时保证与FDC模型开发相关的传感器不会在筛选过程中被遗漏，从而完善FDC模型的性能。