公开/公告号CN111623702B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-10-15
原文格式PDF
申请/专利权人 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所);
申请/专利号CN202010355562.3
申请日2020-04-29
分类号G01B7/16(20060101);G01N19/00(20060101);G01M13/00(20190101);
代理机构51121 成飞(集团)公司专利中心;
代理人郭纯武
地址 610036 四川省成都市金牛区茶店子东街48号
入库时间 2022-08-23 12:36:59
机译: 电子元器件测试设备,电子元器件测试方法及电子元器件测试系统
机译: 集成电路,用于集成电路的测试器,用于集成电路的测试方法,用于集成电路的测试方法程序以及将带有记录方法的介质记录到集成电路的测试方法中
机译: 测量误差-电子元器件的校正方法,质量测试方法和特性-电子元器件的测量系统