公开/公告号CN110135526B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-24
原文格式PDF
申请/专利权人 昆明理工大学;
申请/专利号CN201910505086.6
申请日2019-06-12
分类号G06K9/62(20060101);G06T5/00(20060101);G06T7/90(20170101);G01N27/22(20060101);
代理机构53113 昆明合众智信知识产权事务所;
代理人朱维
地址 650093 云南省昆明市五华区学府路253号
入库时间 2022-08-23 12:32:04
机译: 碳化硅材料或氮化硅材料中杂质浓度分布的测量方法以及陶瓷中杂质浓度分布的测量方法
机译: 测量可燃气体浓度的装置和使用该装置的可燃气体浓度的测量方法以及一种用于测量烃气浓度的装置和使用该装置的测量烃气浓度的方法
机译: 透射波阵面测量方法,折射率分布测量方法和透射波阵面测量设备,其计算频率分布并基于频率分布中的主频谱获得物体的透射波阵面