公开/公告号CN111267010B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-07-23
原文格式PDF
申请/专利权人 上海橄榄精密工具有限公司;
申请/专利号CN202010164222.2
申请日2020-03-11
分类号B24D3/10(20060101);B24D3/34(20060101);B24D18/00(20060101);B22F5/00(20060101);B22F3/14(20060101);C22C26/00(20060101);C22C19/07(20060101);
代理机构31333 上海微策知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人汤俊明
地址 200120 上海市浦东新区惠南镇汇成路601弄1-8号1幢全幢
入库时间 2022-08-23 12:10:42
机译: 使用指示至少一种尖端到尖端的短路或泄漏,至少一种通孔倒角或泄漏,以及至少一种拐角短路或泄漏的非接触电测量来处理半导体晶片的方法,其中获得了这些测量值使用带束偏转的带电粒子束检查器从具有相应的尖端到尖端短,通孔倒角短和拐角短测试区域的单元中进行位移
机译: 使用指示至少一种尖端到尖端的短路或泄漏,至少一种尖端到一侧的短路或泄漏以及至少一种倒角短路或泄漏的非接触电测量来处理半导体晶片的方法,其中这种测量从与各个尖端到尖端的短路,尖端到一侧的短路和倒角短路测试区域相关的非接触焊盘获得
机译: 一种用于制造半导体元件的基础基板的方法,一种用于制造半导体元件的方法,半导体元件的基础基板,半导体元件的外延基板和半导体元件。