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离子注入方法、碲镉汞芯片的制备方法及碲镉汞芯片

摘要

本公开提供一种离子注入方法、碲镉汞芯片的制备方法及碲镉汞芯片,所述碲镉汞芯片的制备方法包括:在所述P型碲镉汞衬底上方形成介质膜层;对所述P型碲镉汞衬底和所述介质膜层进行热处理工艺;在所述介质膜层上方形成光刻胶掩膜层,并对所述光刻胶掩膜层进行图案化处理,以在所述光刻胶掩膜层上形成网格状的离子注入窗口;通过所述离子注入窗口,注入高能离子到所述P型碲镉汞衬底表面内,以在所述P型碲镉汞衬底表面内形成N型掺杂区;去除所述光刻胶掩膜层;对所述P型碲镉汞衬底进行热处理工艺。这种方法有效保护注入区内未被高能离子轰击的介质膜层,减少对介质膜层和碲镉汞之间通过热处理形成的良好界面的破坏。

著录项

  • 公开/公告号CN112086363B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京智创芯源科技有限公司;

    申请/专利号CN202010976632.7

  • 发明设计人 不公告发明人;

    申请日2020-09-16

  • 分类号H01L21/426(20060101);H01L21/477(20060101);H01L31/18(20060101);H01L31/103(20060101);

  • 代理机构11372 北京聿宏知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴大建;金淼

  • 地址 100176 北京市大兴区经济技术开发区经海三路106号1幢一层

  • 入库时间 2022-08-23 11:38:47

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